[发明专利]一种基于方差维数的辐射源指纹特征提取方法

权利要求书

1.一种基于方差维数的辐射源指纹特征提取方法，其特征在于：所述方法具体过程为：

步骤一、对接收到的一维辐射源信号进行分段处理，得到一维辐射源信号段S₁,S₂,…S_i…,S_n；

S_i为第i个一维辐射源信号段，1≤i≤n，n取值为正整数；

过程为：

步骤一一、输入接收到的一维辐射源信号S，根据接收到的一维辐射源信号S的总长和特征提取分段数需求，设定信号段长度w和分段数n，每个信号段长度相同；

步骤一二、确定滑动窗步长Δ，滑动窗步长Δ由式(1)得到：

其中表示正向取整函数；

步骤一三、调用函数G＝enframe(S，w，Δ)，得到函数enframe的返回值G，G形式如下：

G是一个行数为n，列数为w的矩阵；

得到一维辐射源信号段S₁,S₂,…S_i…,S_n；

步骤二、对步骤一得到的一维辐射源信号段进行方差维数特征提取，得到方差维数特征向量；具体过程为：

步骤二一、当i＝1时，将S_i划分为β个初始长度为A的等长子区间，用{d_t}表示子区间内的序列；β取值为正整数；

步骤二二、计算每个子区间内累计离差的极差；

对于每一个子区间，设：

其中，E_q为第q个子区间内d_p的平均値，q＝1,2…β，d_p为{d_t}中第p个元素，Z_t,q为第q个子区间的累计离差；

所有累计离差值的极差由式(4)得到：

R_q＝max(Z_t,q)-min(Z_t,q) (4)

步骤二三、计算每个子区间标准差：

设S_q表示第q个子区间内序列{d_t}的标准差，则：

序列{d_t}表示每个子区间内的序列；

步骤二四、计算每个子区间重标极差，并求均值；

令子区间的长度为A按式(6)所示的以2为底的指数规律变化，

计算每个子区间重标极差，并求均值：

重复执行步骤二一至步骤二四，直至执行步骤二五；

步骤二五、对相对应的重标极差R/S和长度A的值取对数后线性拟合，得到Hurst指数H⁽ⁱ⁾；

步骤二六、利用Hurst指数H⁽ⁱ⁾计算方差维数特征向量

由式(8)给出：

其中E表示Euclid维数；

步骤二七、判断i是否等于n，如果是，结束；如果否，执行步骤二一，直至i等于n。

2.根据权利要求1所述一种基于方差维数的辐射源指纹特征提取方法，其特征在于：所述步骤二一中当i＝1时，将S_i划分为β个初始长度为A的等长子区间；β取值为正整数；过程为：

对于截取的信号段长度为w的一维辐射源信号段S_i，将一维辐射源信号段S_i分成β个初始长度为A的等长子区间，用序列{d_t}表示每个子区间内的序列。