[发明专利]电缆绝缘层电老化试验方法及试验装置

权利要求书

1.一种电缆绝缘层电老化试验方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取多片模拟试样；

将多片所述模拟试样分别以不同的分布距离设置于试验电芯外；

对所述试验电芯施加电压后得到多片电老化试样；

所述将多片所述模拟试样分别以不同分布距离分布于试验电芯外的步骤具体包括：

将每片所述模拟试样以与所述试验电芯同心圆弧状分布于所述试验电芯外，且每片所述模拟试样所在圆的半径不同；其中，在相邻两片所述模拟试样之间设置隔离片。

2.根据权利要求1所述的电缆绝缘层电老化试验方法，其特征在于，所述将多片所述模拟试样分别以不同分布距离分布于试验电芯外的步骤具体包括：

设置最大的所述分布距离小于或等于待测电缆中待测绝缘层外周面与待测电芯之间的距离。

3.根据权利要求1所述的电缆绝缘层电老化试验方法，其特征在于，所述将多片所述模拟试样分别以不同分布距离分布于试验电芯外的步骤具体还包括：

在所述试验电芯的外周铺设第一半导体层，多片所述模拟试样中距离所述试验电芯最近的一片铺设于所述第一半导体层的外周。

4.根据权利要求1所述的电缆绝缘层电老化试验方法，其特征在于，所述将多片所述模拟试样分别以不同分布距离分布于试验电芯外的步骤具体包括：

在铺设完成多片所述模拟试样之后，于距离所述试验电芯最远的所述模拟试样外周铺设第二半导体层，并在所述第二半导体层外设置金属接地层。

5.根据权利要求1所述的电缆绝缘层电老化试验方法，其特征在于，所述获取多片模拟试样步骤之前具体包括：

根据待测电缆中待测绝缘层的厚度确定所述模拟试样的取样数量；

根据待测电缆中待测绝缘层相对待测电芯的位置确定所述模拟试样相对所述试验电芯的所述分布距离。

6.根据权利要求1-5任一项所述的方法，其特征在于，多片所述模拟试样的厚度相同。

7.一种电缆绝缘层电老化试验装置，其特征在于，包括具有通压端口的试验电芯及多片隔离片，每片所述隔离片以与所述试验电芯同心圆弧状分布于所述试验电芯外，且每片所述隔离片所在圆的半径不同；距离所述试验电芯最近的一片所述隔离片与所述试验电芯之间、以及剩余所述隔离片中相邻两片之间均界定形成用于放置模拟试样的第一检测空间，将多片所述模拟试样分别放置于各所述第一检测空间内，所述第一检测空间内的模拟试样距离所述试验电芯的距离不同；当通压端口通压后对所述试验电芯施加电压得到多片电老化试样。

8.根据权利要求7所述的电缆绝缘层电老化试验装置，其特征在于，还包括第一半导体层，所述第一半导体层铺设于所述试验电芯的外周，距离所述试验电芯最近的一片所述隔离片与所述第一半导体层之间界定形成一个所述第一检测空间。

9.根据权利要求7所述的电缆绝缘层电老化试验装置，其特征在于，还包括第二半导体层和金属接地层，所述第二半导体层以与所述试验电芯同心圆弧状分布于距离所述试验电芯最远的所述隔离片外，且两者之间界定形成一个第二检测空间，所述金属接地层铺设于所述第二半导体的外周。