[发明专利]一种K线图的绘制方法、电子设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 201711495044.6 申请日: 2017-12-31
公开(公告)号: CN108198233A 公开(公告)日: 2018-06-22
发明(设计)人: 刘杰;何青贵 申请(专利权)人: 广州金十信息科技有限公司
主分类号: G06T11/20 分类号: G06T11/20;G06Q40/04
代理公司: 广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙) 44288 代理人: 邵穗娟;汤喜友
地址: 510310 广东省广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 绘制 缓冲区 顶点数据 顶点坐标 光栅化处理 电子设备 纹理映射 计算机可读存储介质 读取 双缓冲技术 存储介质 实时更新 数据计算 光栅化 绘图 写入
【权利要求书】:

1.一种K线图的绘制方法,其特征在于,具体步骤包括:

根据获得的K线数据计算K线顶点坐标;

对所述顶点坐标进行纹理映射,得到顶点数据;

将所述顶点数据进行光栅化处理;

将光栅化后的顶点数据写入缓冲区;

读取缓冲区的数据,根据缓冲区的数据绘制K线图。

2.据权利要求1所述K线图的绘制方法,其特征在于,所述K线数据包括最高价、开盘价、最低价和收盘价,所述K线数据至少一组。

3.根据权利要求1所述K线图的绘制方法,其特征在于,在计算所述K线顶点坐标前还包括:确定电子设备屏幕的画布大小;

所述根据获得的K线数据计算K线顶点坐标,具体为:根据电子设备屏幕的画布大小与K线数据计算K线顶点坐标。

4.根据权利要求3所述K线图的绘制方法,其特征在于,所述根据所述K线数据与电子设备屏幕的画布大小计算K线顶点坐标,具体为:

把所述K线数据按时间戳在X轴上排序,则根据公式SY=(Y2-Y1)/H1计算Y轴的缩放系数SY,其中,H1为屏幕画布高,Y1为K线数据在Y轴的最低点,Y2为K线数据在Y轴的最高点。

K线宽为W,两条K线间隔为X,K线在数组中的顺序为I,则K线数据的顶点坐标具体计算为:

(x1,y1)=(X*I,(hight-Y1)*SY);

(x2,y2)=(X*I+W*0.5,(open-Y1)*SY);

(x3,y3)=(X*I+W*0.5,(close-Y1)*SY);

(x4,y4)=(X*I,(low-Y1)*SY)。

其中,(x1,y1)为K线数据最高价的顶点坐标,high为最高价;(x2,y2)为K线数据开盘价的顶点坐标,open为开盘价;(x3,y3)为K线数据收盘价的顶点坐标,close为收盘价;(x4,y4)为K线数据最低价的顶点坐标,low为最低价。

5.根据权利要求1所述K线图的绘制方法,其特征在于,所述得到顶点数据后,还包括:将所述顶点数据拷贝填充到画布上的顶点坐标中。

6.根据权利要求1所述K线图的绘制方法,其特征在于,所述将所述顶点数据进行光栅化处理,将光栅化后的顶点数据写入缓冲区,具体为:将所述顶点数据转换为片元,所述片元写入缓冲区中。

7.据权利要求6所述K线图的绘制方法,其特征在于,所述方法还包括:将所述片元在缓冲区内转换成像素,所述片元中的元素与像素一一对应。

8.据权利要求7所述K线图的绘制方法,其特征在于,所述根据缓冲区的数据绘制K线图,具体为:根据所述像素通过opengl绘制K线图。

9.一种电子设备,其特征在于,包括:处理器;

存储器;以及程序,其中所述程序被存储在所述存储器中,并且被配置成由处理器执行,所述程序包括用于执行权利要求1-8任意一项所述的方法。

10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行如权利要求1-8任意一项所述的方法。

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