[实用新型]高度测微仪的外圆基准有效
| 申请号： | 201720021958.8 | 申请日： | 2017-01-10 |
| 公开（公告）号： | CN206387355U | 公开（公告）日： | 2017-08-08 |
| 发明（设计）人： | 沈奇;陈继君 | 申请（专利权）人： | 无锡市通达滚子有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/06 | 分类号： | G01B5/06 |
| 代理公司： | 苏州广正知识产权代理有限公司32234 | 代理人： | 马云玉 |
| 地址： | 214183*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 高度 测微仪 基准 | ||
【权利要求书】：
1.一种高度测微仪的外圆基准，其特征在于，包括：
竖直基准、基准座和外圆靠山，所述基准座装配于竖直基准上，外圆靠山一端与基准座连接，另一端为与工件外圆紧贴的接触面，所述接触面为开口向外的V型，其角度为100°-130°。
2.根据权利要求1所述的高度测微仪的外圆基准，其特征在于，基准座沿竖直基准上下位置可调，外圆靠山可左右移动式装配于基准座上。
3.根据权利要求1所述的高度测微仪的外圆基准，其特征在于，所述外圆靠山的厚度为1.8mm～6mm。
4.根据权利要求1所述的高度测微仪的外圆基准，其特征在于，外圆靠山的V型角度为120°。
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