[实用新型]一种高度测微仪有效

专利信息
申请号: 201720021991.0 申请日: 2017-01-10
公开(公告)号: CN206387356U 公开(公告)日: 2017-08-08
发明(设计)人: 沈奇;陈继君 申请(专利权)人: 无锡市通达滚子有限公司
主分类号: G01B5/06 分类号: G01B5/06
代理公司: 苏州广正知识产权代理有限公司32234 代理人: 马云玉
地址: 214183*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 高度 测微仪
【权利要求书】:

1.一种高度测微仪,包括测量台、仪表夹头座,所述测量台水平设置,仪表夹头座垂直于测量台设置,其特征在于,测量台上设有高度测量基准和外圆基准座,仪表夹头座上设有仪表,仪表的测轴上连接有测头,待测工件设于高度测量基准与测头之间,外圆基准座上设有与待测工件外表面紧贴的外圆靠山。

2.根据权利要求1所述的高度测微仪,其特征在于,所述高度测量基准为圆柱体,圆柱体的直径为Ф1mm~Ф10mm,圆柱体上端面为测量平台,其平面度<0.1μm。

3.根据权利要求2所述的高度测微仪,其特征在于,基准座件上至少装配有2个高度测量基准,各高度测量基准的直径和高度均不相同。

4.根据权利要求1所述的高度测微仪,其特征在于,外圆基准座沿Z轴方向上下位置可调,外圆靠山可左右移动式装配于外圆基准座上,所述外圆靠山与待测工件紧贴的接触面呈V型。

5.根据权利要求1所述的高度测微仪,其特征在于,接触面的V型角度为100°-130°。

6.根据权利要求1所述的高度测微仪,其特征在于,所述仪表为扭簧表,扭簧表竖直设于待测工件上方。

7.根据权利要求1所述的高度测微仪,其特征在于,所述测头为半圆头针状测头。

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