[实用新型]一种颗粒快速检测装置

权利要求书

1.一种颗粒快速检测装置，其特征在于包括用于将待测颗粒样品分散到空间中的颗粒样品分散装置和用于构建多个采样体并行收集动态散射光信号的光学照明与探测装置；

所述的光学照明与探测装置是采用以下的一种：

包括低相干光源、干涉仪和探测器；

或者包括低相干光源、干涉仪和光谱仪；

或者包括扫频宽光谱光源、干涉仪和探测器。

2.根据权利要求1所述的一种颗粒快速检测装置，其特征在于：所述的光学照明与探测装置包括以下一种或多种：

一种多光束照明不同的垂直于光轴方向的横向空间位置的照明装置与多探测器的探测装置；

一种多光束以不同入射角照明同一或者不同空间位置的照明装置与多探测器的探测装置；

一种由多个子光束构成的单光束的照明装置，子光束有不同的光程延迟，且以不同入射角度照明同一或者不同空间位置；

一种包括含有不同光谱的多个探测光束的照明装置，不同光束照明在同一空间区域或者不同空间区域。

3.根据权利要求1所述的一种颗粒快速检测装置，其特征在于：所述检测装置具体包括宽带低相干光源(31)、光环形器(32)、分光比为50:50的光纤耦合器(33)、第一偏振控制器(46)、第一光纤准直器件(34)、聚焦透镜(35)、平面高反射镜(36)、第二偏振控制器(47)、第二光纤准直器件(37)、扫描振镜(38)、物镜(39)、样品分散装置(40)、第三光纤准直器件(41)、光栅(42)、傅里叶变换透镜(43)和高速线阵相机(44)；低相干宽带光源(31)发出的光，经过光环行器(32)后进入到光纤耦合器(33)，从光纤耦合器(33)出射的光被分成两部分子光束，其中一子光束通过光纤经过第一偏振控制器(46)连接至参考臂中的第一光纤准直器件(34)，经过准直和聚焦后照射到平面高反射镜(36)；另一子光束通过光纤经过第二偏振控制器(47)连接至第二光纤准直器件(37)，第二光纤准直器件(37)的出射光经扫描振镜(38)、物镜(39)后入射到样品分散装置(40)的被测样品上；光环行器(32)的出射光依次经第三光纤准直器件(41)、光栅(42)和傅里叶变换透镜(43)后入射到高速线阵相机(44)。

4.根据权利要求3所述的一种颗粒快速检测装置，其特征在于：所述的宽带低相干光源(31)采用超发光二极管光源，所述的物镜(39)采用消色差双胶合透镜，所述的高速线阵相机(44)采用线阵扫描相机。