[实用新型]一种避免样品洒落的固体粉末荧光测试样品架

说明书

技术领域

本实用新型涉及荧光样品测试技术领域，特别是涉及一种避免样品洒落的固体粉末荧光测试样品架。

背景技术

荧光指物质分子吸收外界高能光辐射，内部电子能级跃迁后返回到基态，重新释放出多余能量而伴随的发光现象。荧光分光光度计就是基于物质的这种性质而对其进行定性及定量分析的一种分析仪器。现有的荧光分光光度计包括：光源、单色器、样品池和检测器，而在使用荧光分光光度计对样品进行测试时，往往需要将粉末固体平铺并压实在样品槽内，但测试中即使样品压实，也容易发生脱落情况，极易污染仪器，而且有机荧光染料污染仪器后，难以清洗干净。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种避免样品洒落的固体粉末荧光测试样品架，以解决污染仪器问题，避免样品洒落并收集洒落的样品，而且便于清洗。

为实现上述目的，本实用新型提供了如下方案：

本实用新型提供一种避免样品洒落的固体粉末荧光测试样品架，包括底板和第一挡板，所述第一挡板连接于所述底板的下部并垂直于所述底板，所述底板朝向所述第一挡板延伸方向的一面上设有样品槽。

优选的，所述底板与所述第一挡板一体成型。

优选的，所述样品槽内设置有滑板，所述样品槽的一端延伸至所述底板的一端，所述样品槽与该端端面垂直的两侧面上对称设有滑槽，所述滑槽方向平行于所述样品槽的底面，所述滑板与所述滑槽相匹配并能沿所述滑槽滑动，所述滑板前沿设有第二挡板，所述第二挡板的高度和宽度分别与所述样品槽的高度和宽度相同。

优选的，所述底板上方还设置有盖板，所述盖板与所述底板尺寸相同。

优选的，所述样品槽一端延伸至所述底板长度方向的上端。

优选的，所述样品槽一端延伸至所述底板宽度方向的一端。

优选的，沿所述底板长度方向上，所述样品槽两端的距离大于所述滑板两端的距离。

优选的，沿所述底板宽度方向上，所述样品槽两端的距离大于所述滑板两端的距离。

优选的，所述底板的厚度为1～1.5mm。

优选的，所述底板和所述滑板为金属板，所述盖板为石英玻璃板。

本实用新型相对于现有技术取得了以下技术效果：

本实用新型提供的避免样品洒落的固体粉末荧光测试样品架，针对样品洒落污染仪器的问题，在底板下方垂直于底板设置有第一挡板，底板与第一挡板形成L型，可以避免测试中样品掉落至仪器的其他部位，解决污染仪器的问题；还可以收集洒落的样品，提高样品利用率。

进一步的，可根据测试的需求，通过滑板的滑动改变实际用于盛放样品的样品槽的大小，将粉末固体平铺并压实在样品槽内，用盖板盖好后再放置在样品架上用样品夹固定即可进行测试，减少了样品的浪费；且盖板防止了测试中样品发生脱落的情况发生，进一步避免了样品污染仪器，保证了仪器的清洁。

进一步的，样品槽设置不同的方向，可以适于不同光路的样品检测，可适用于不同厂家不同型号的荧光分光光度计，如既适用于平行光路的荧光分光光度计，又适用于垂直光路的荧光分光光度计，具有较好的普适性。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为实施例一中的避免样品洒落的固体粉末荧光测试样品架的主视图；

图2为图1的C-C剖面结构示意图；

图3为实施例二中的避免样品洒落的固体粉末荧光测试样品架的主视图；

图4为图3的B-B剖面结构示意图；

图5为图3的A-A剖面结构示意图；

图中：1-底板、2-第一挡板、3-样品槽、31-滑槽、4-滑板、41-第二挡板、5-盖板。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

本实用新型的目的是提供一种避免样品洒落的固体粉末荧光测试样品架，以解决污染仪器问题，避免样品洒落并收集洒落的样品，而且便于清洗。