[实用新型]离子迁移谱与飞行时间质谱联用仪及其联用接口结构有效

专利信息
申请号: 201720086377.2 申请日: 2017-01-20
公开(公告)号: CN206541795U 公开(公告)日: 2017-10-03
发明(设计)人: 洪义;谭国斌;高伟;乔佳;喻佳俊;苏海波;刘丹 申请(专利权)人: 广州智纯科学仪器有限公司
主分类号: H01J49/04 分类号: H01J49/04;H01J49/06;H01J49/00
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 代理人: 林青中,万志香
地址: 510000 广东省广州*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 离子 迁移 飞行 时间 联用 及其 接口 结构
【权利要求书】:

1.一种离子迁移谱与飞行时间质谱的联用接口结构,其特征在于,包括引流电极片、聚流电极片及冷却聚焦电极,所述引流电极片、所述聚流电极片及所述冷却聚焦电极依次设置;其中,所述引流电极片设有第一通孔;所述聚流电极片设有第二通孔,所述第二通孔的内径从靠近所述引流电极片的一端至远离所述引流电极片的一端逐渐缩小,且所述第二通孔的内径较大的一端的内径与所述第一通孔出口端的内径一致;所述冷却聚焦电极为四极杆结构,所述冷却聚焦电极的离子通道的入口端与所述第二通孔的内径较小的一端齐平,且该入口端的尺寸大于所述第二通孔内径较小的一端的内径;所述第一通孔、所述第二通孔及所述离子通道共轴设置。

2.如权利要求1所述的离子迁移谱与飞行时间质谱的联用接口结构,其特征在于,所述第一通孔的内径一致。

3.如权利要求2所述的离子迁移谱与飞行时间质谱的联用接口结构,其特征在于,所述引流电极片具有主体部及引流部;所述引流部凸设在所述主体部的远离所述聚流电极片的一侧表面,且所述引流部的外壁与该侧表面的夹角的度数不小于90°;所述第一通孔依次贯穿所述引流部及所述主体部。

4.如权利要求3所述的离子迁移谱与飞行时间质谱的联用接口结构,其特征在于,所述第一通孔的内径为6~26mm。

5.如权利要求1~4中任一项所述的离子迁移谱与飞行时间质谱的联用接口结构,其特征在于,所述第二通孔为内径均匀变化的圆台形孔。

6.如权利要求5所述的离子迁移谱与飞行时间质谱的联用接口结构,其特征在于,所述聚流电极片具有连接部及聚流部;所述连接部靠近所述引流电极片设置,所述聚流部凸设在所述连接部的远离所述引流电极片的一侧表面;所述第二通孔依次贯穿所述连接部及所述聚流部。

7.如权利要求6所述的离子迁移谱与飞行时间质谱的联用接口结构,其特征在于,所述第二通孔的内径较大的一端的内径为6~26mm,内径较小的一端的内径为0.1~0.3mm,且内径较大的一端至内径较小的一端的距离为2~5mm。

8.如权利要求7所述的离子迁移谱与飞行时间质谱的联用接口结构,其特征在于,所述冷却聚焦电极的各电极杆的直径为4~6mm,长度为27~50mm,所述冷却聚焦电极的离子通道的入口端的尺寸为3.5~6mm。

9.一种离子迁移谱与飞行时间质谱联用仪,其特征在于,包括离子迁移谱、飞行时间质谱及如权利要求1~8中任一项所述的离子迁移谱与飞行时间质谱的联用接口结构,所述离子迁移谱与所述飞行时间质谱之间通过所述联用接口结构连接。

10.如权利要求9所述的离子迁移谱与飞行时间质谱联用仪,其特征在于,所述离子迁移谱的漂移管的内径大于所述第一通孔的内径,所述漂移管与所述第一通孔共轴设置,且所述漂移管的端部与所述第一通孔的端部之间具有间隔。

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