[实用新型]一种光耦电流检测电路

说明书

技术领域

本实用新型涉及电流检测领域，特别是涉及一种光耦电流检测电路。

背景技术

在激光打印机系统中通常需要检测高压电源的输出电流大小来调整其所需要的模拟信号。因是对高压电路中输出电流进行检测，如果使用差分电流检测电路的话，那么差分运算放大器的正相和反相输出端避免不了会使用到高阻值的电阻来限制其正相和反相输出端的输入电流同时获取较小的输出电压信号，电路接入到检测点的电压越高所需要的电阻阻值就越大。但高阻值的电阻在高温高湿的环境下，时间长了之后，阻值会发生变化。如果正反相电阻温度特性不一致，变化程度不一样时，将会导致其检测的模拟信号结果发生变化，这很有可能会使打印机误动作；而这种变化也是不可逆的，也就是说当高阻值电阻发生变化后，从高温高湿的环境中转移到常温常湿的环境中，变化后的阻值也不会恢复到原始阻值了。高阻值电阻因工艺原因特别容易受高温潮湿的环境影响而发生阻值变化。

如图1所示为传统的电流检测电路原理图，通过在采样电阻R1、R2、R3和R4上取样输入至运算放大器中，由于电流检测处的电压为负高压信号-1350V，同时在运算放大器的正相输入端接入了+0.39V的偏置电压，故采样电阻R1、R2、R3和R4的取值需要很大，否则电路无法正常工作，而且负高压信号的值越大，相应的采样电阻R1、R2、R3和R4也要对应增大。但因为高阻值的电阻，在电源长时间工作且在高温高湿环境下时，高阻值电阻的阻值因工艺的原因在恶劣环境下稳定性差，若采样电阻R1和R2的变化幅度与采样电阻R3和R4的幅度不一致时，在运算放大器输出的检测结果Vout的电压也容易在原来的基础上发生漂移。

实用新型内容

本实用新型的目的是克服现有技术中的不足之处，提供一种光耦电流检测电路。

本实用新型的目的是通过以下技术方案来实现的：

一种光耦电流检测电路，包括：电流检测单元、光耦负反馈单元和反相放大单元，其中，所述电流检测单元的输入端作为所述光耦电流检测电路的输入端，所述反相放大单元的输出端作为所述光耦电流检测电路的输出端；

所述电流检测单元、所述光耦负反馈单元和所述反相放大单元依次连接。

在其中一个实施例中，所述电流检测单元包括：第一光电耦合器ISO1、第一二极管D1、第一电阻R1、第一采样电阻R2和第二采样电阻R3，其中，所述第一光电耦合器ISO1的发光二极管的阳极作为所述电流检测单元的输入端，所述第一采样电阻R2的一端作为所述电流检测单元的第一输出端，所述第二采样电阻R3作为所述电流检测单元的第二输出端；

所述第一光电耦合器ISO1的发光二极管的阴极与所述第一电阻R1的一端连接；

所述第一二极管D1反向并联于所述第一光电耦合器ISO1的发光二极管；

所述第一光电耦合器ISO1的光电三极管的集电极连接电源Vcc，发射极连接于所述第一采样电阻R2的一端；

所述第一采样电阻R2的另一端连接于参考地GND；

所述第二采样电阻R3的一端连接于参考地GND。

在其中一个实施例中，所述电流检测单元还包括：第一电容C1，所述第一电容C1的一端连接于所述第一二极管D1的阴极，另一端连接于所述第一电阻R1的一端。

在其中一个实施例中，所述电流检测单元还包括：第二电容C2，所述第二电容C2并联于所述第一采样电阻R2。

在其中一个实施例中，所述光耦负反馈单元包括：第一运算放大器U1A和第二光电耦合器ISO2，其中，所述第一运算放大器U1A的正相输入端作为所述光耦负反馈单元的第一输入端，反相输入端作为所述光耦负反馈单元的第二输入端，所述第二光电耦合器ISO2的发光二极管的阴极作为所述光耦负反馈单元的输出端；

所述第一运算放大器U1A的正相输入端连接于所述所述第一采样电阻R2的一端，反相输入端连接于所述第二采样电阻R3的一端；

所述第一运算放大器U1A的输出端连接于所述第二光电耦合器ISO2的发光二极管的阳极；

所述第一运算放大器的电源端连接于电源Vcc，接地端连接于参考地GND；

所述第二光电耦合器ISO2的光电三极管的集电极连接于电源Vcc，发射极连接于所述第一运算放大器U1A的反相输入端。

在其中一个实施例中，所述光耦负反馈单元还包括：第三电容C3，所述第三电容C3的一端连接于所述第一运算放大器U1A的反相输入端，另一端连接于所述第一运算放大器的输出端。