[实用新型]一种轴承套圈密封槽槽底径测量仪有效
申请号: | 201720093303.1 | 申请日: | 2017-01-24 |
公开(公告)号: | CN206399337U | 公开(公告)日: | 2017-08-11 |
发明(设计)人: | 胡国松;方明俊;廖志飞 | 申请(专利权)人: | 宁夏菲斯克汽车轮毂轴承有限公司 |
主分类号: | G01B5/12 | 分类号: | G01B5/12 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙)11363 | 代理人: | 逯长明,许伟群 |
地址: | 751600 宁夏回*** | 国省代码: | 宁夏;64 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 轴承 密封 槽槽底径 测量仪 | ||
技术领域
本实用新型涉及轴承测量技术领域,更为具体地说,涉及一种轴承套圈密封槽槽底径测量仪。
背景技术
密封轴承,是指一面或两面装有密封圈的滚动轴承。为了设置密封圈,轴承套圈上设置密封槽,密封圈将设置在密封槽内。为了起到良好的密封作用,在使用安装的过程中,密封圈与密封槽过盈配合。密封轴承的密封槽加工质量的好坏,直接影响到轴承的密封性能。
轴承的生产过程中,轴承套圈与密封圈是分开生产制造的,然后将密封圈与轴承套圈进行组装。然而在生产制造的过程中,轴承套圈的密封槽的尺寸易出现较大的误差,当轴承套圈的密封槽尺寸过大的时候,轴承套圈的密封槽与密封圈配合不紧密,出现漏油、密封圈从密封槽内脱落等现象;当轴承套圈的密封槽尺寸过小的时候,密封圈与轴承套圈的密封槽无法配合,即密封圈无法安装,影响轴承的生产。
如此,在轴承套圈生产过程,需要对轴承套圈的密封槽槽底径尺寸进行监控。目前的轴承套圈的密封槽槽底径测量效率较低,测量误差较大,且易出现测量错误,影响轴承套圈的生产质量。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种轴承套圈密封槽槽底径测量仪,以便于轴承套圈密封槽槽底径的测量,提高轴承套圈的生产质量。
为了解决上述技术问题,本实用新型提供如下技术方案:
本实用新型提供的一种轴承套圈密封槽槽底径测量仪,包括:仪器支架;
设置在所述仪器支架上的第一固定座、第二固定座和第三固定座,所述第一固定座、第二固定座和第三固定座三叉分布于所述仪器支架上;设置在所述仪器支架上的支架平台;其中:
所述第一固定座上设置第一测头,所述第二固定座上设置第二测头,所述第三固定座上设置比较仪测头,所述第一测头的轴线、第二测头的轴线和比较仪测头的轴线位于同一平面内,且所述平面与所述支架平台的上端面所在平面平行;
所述第一测头可移动连接所述第一固定座,所述第二测头可移动连接所述第二固定座,所述比较仪测头可移动连接所述第三固定座;
所述支架平台的下端面设置调节机构,所述调节机构支撑所述支架平台,且所述调节机构固定连接所述仪器支架。
优选的,上述轴承套圈密封槽槽底径测量仪中,主体与所述底座连接处设置旋转螺钉,所述旋转螺钉固定连接所述支架主体和底座。
优选的,上述轴承套圈密封槽槽底径测量仪中,所述第一固定座包括第一紧固螺栓,所述第一测头通过所述第一紧固螺栓固定连接所述第一固定座;
所述第二固定座包括第二紧固螺栓,所述第二测头通过所述第二紧固螺栓固定连接所述第二固定座;
所述第三固定座包括第三紧固螺栓,所述比较仪测头通过所述第三紧固螺栓固定连接所述第三固定座。
优选的,上述轴承套圈密封槽槽底径测量仪中,所述第一测头的轴线与所述第二测头的轴线垂直,且所述第二测头的轴线与所述比较仪测头的轴线共线。
优选的,上述轴承套圈密封槽槽底径测量仪中,所述第一测头的头部为第一测点,所述第一测点位于所述第一测头的轴线上,所述第一测头的尾部设置第一调节螺栓52,所述第一调节螺栓连接所述第一测点;
所述第二测头的头部设置第二测点,所述第二测点位于所述第二测头的轴线上,所述第二测头的尾部设置第二调节螺栓,所述第二调节螺栓连接所述第二测点。
优选的,上述轴承套圈密封槽槽底径测量仪中,所述比较仪测头远离仪表盘的一端设置第三测点,所述第三测点位于所述比较仪测头的轴线上。
优选的,上述轴承套圈密封槽槽底径测量仪中,所述调节机构包括平台调节螺栓101,所述平台调节螺栓的一端固定支撑所述支架平台。
优选的,上述轴承套圈密封槽槽底径测量仪中,所述支架平台上包括3个U型槽,3个所述U型槽的轴线分别对应与所述第一测头的轴线、第二测头的轴线和比较仪测头的轴线平行,所述U型槽的轴线均在同一平面内,且所述平面与所述支架平台的上端面所在平面平行。
本实用新型提供的轴承套圈密封槽槽底径测量仪,包括仪器支架,设置在仪器支架上的第一固定座、第二固定座、第三固定座和支架平台,通过第一固定座、第二固定座和第三固定座固定的第一测头、第二测头和比较仪测头,支架平台的下端设置调节机构,支架平台用于待检测轴承套圈的放置,第一测头、第二测头和比较仪测头用于轴承套圈密封槽标准尺寸的标定,同时比较仪测头带有含刻度的仪表盘。
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