[实用新型]超低静态功耗随机存储器有效
申请号: | 201720106324.2 | 申请日: | 2017-02-03 |
公开(公告)号: | CN206505724U | 公开(公告)日: | 2017-09-19 |
发明(设计)人: | 张一平;王子欧;朱灿焰;张立军 | 申请(专利权)人: | 苏州大学 |
主分类号: | G11C11/417 | 分类号: | G11C11/417 |
代理公司: | 苏州翔远专利代理事务所(普通合伙)32251 | 代理人: | 陆金星 |
地址: | 215000 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 静态 功耗 随机 存储器 | ||
技术领域
本实用新型涉及静态随机存储器领域,具体涉及一种超低静态功耗随机存储器。
背景技术
静态随机存储器作为集成电路中的重要的存储元件,由于其高性能,高可靠性,低功耗等优点被广泛的应用于高性能计算器系统(CPU),片上系统(SOC),手持设备等计算领域。
参见图1所示,为现有静态随机存储器的标准6管结构存储单元,BL/BLB为位线,wordline为字线。因为存储器为大量重复单元,器件数目众多,漏电问题严重。因此,通常会在不需要读写但是要保持数据时将地连接为虚地。虚地的电压大于0,假设电源为1V,0.5V的虚地电压能大大减少存储器的漏电,同时,存储值得到保持。
现有的随机存储器存在如下缺点:1、需要单独保持模式,由于其虚地电容较大,因此,需要较多的恢复时间,从保持模式恢复需要将虚地电压拉到0才能进行读写,增加了额外的模式;2、在正常读写时,静态功耗未减少,这时,所有虚地电压均为0,会导致读写时的整体功耗较大,其中,读写功耗=读写时的静态功耗+动态功耗。
因此,设计一种超低静态功耗随机存储器,能够减小虚地电容,提高读写效率,降低功耗,显然具有积极的现实意义。
发明内容
本实用新型的发明目的是提供一种超低静态功耗随机存储器。
为达到上述发明目的,本实用新型采用的技术方案是:一种超低静态功耗随机存储器,其包括复数行6管存储单元,每两行所述6管存储单元之间设有隔离单元,所述隔离单元用于隔离邻近该隔离单元的上下两行6管存储单元的虚地端。
优选地,所述隔离单元包括第一PMOS晶体管、第二PMOS晶体管、第三PMOS晶体管、第四PMOS晶体管、第一NMOS晶体管和第二NMOS晶体管;
所述第一PMOS晶体管的栅极连接到字线,漏极连接到第一位线,源极连接到第三PMOS晶体管的漏极;
所述第二PMOS晶体管的栅极连接到字线,漏极连接到第二位线,源极连接到第二NMOS晶体管的漏极;
所述第三PMOS晶体管的源极接电源端,栅极分别连接到第一NMOS晶体管的栅极和第四PMOS晶体管的漏极;
所述第四PMOS晶体管的源极接电源端,栅极分别连接到第一NMOS晶体管的漏极和第二NMOS晶体管的栅极;
所述第一NMOS晶体管的源极接虚地端;
所述第二NMOS晶体管的源极接位于所述隔离单元上一行的6管存储单元的虚地端。
由于上述技术方案运用,本实用新型与现有技术相比具有下列优点:
1.本实用新型通过在原静态随机存储器的复数行6管存储单元中每隔两行之间插入一行隔离单元,用于隔离邻近该隔离单元的上下两行6管存储单元的虚地端,从而消灭直流通路,在正常读写时,大部分的存储单元仍然处于保持模式,降低了功耗;
2.本实用新型的虚地电容较小,极大地缩短了建立时间;
3.本实用新型的隔离单元是在原6管存储单元的基础上改进而来,因此,面积增加较小。
附图说明
图1是背景技术中现有静态随机存储器的标准6管结构存储单元的电路示意图。
图2是实施例一中本实用新型的隔离单元电路结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图及实施例对本实用新型作进一步描述:
实施例一:
参见图2所示,一种超低静态功耗随机存储器,其包括复数行6管存储单元,每两行所述6管存储单元之间设有隔离单元,所述隔离单元用于隔离邻近该隔离单元的上下两行6管存储单元的虚地端。
本实施例中,所述隔离单元包括第一PMOS晶体管MP1、第二PMOS晶体管,MP2、第三PMOS晶体管MP3、第四PMOS晶体管MP4、第一NMOS晶体管MN1和第二NMOS晶体管MN2;
所述第一PMOS晶体管MP1的栅极连接到字线WL,漏极连接到第一位线BL,源极连接到第三PMOS晶体管MP3的漏极;
所述第二PMOS晶体管MP2的栅极连接到字线WL,漏极连接到第二位线BLB,源极连接到第二NMOS晶体管MN2的漏极;
所述第三PMOS晶体管MP3的源极接电源端,栅极分别连接到第一NMOS晶体管MN1的栅极和第四PMOS晶体管MP4的漏极;
所述第四PMOS晶体管MP4的源极接电源端,栅极分别连接到第一NMOS晶体管MN1的漏极和第二NMOS晶体管MN2的栅极;
所述第一NMOS晶体管MN1的源极接虚地端;
所述第二NMOS晶体管MN2的源极接位于所述隔离单元上一行的6管存储单元的虚地端。
本实用新型采用地址编码选择要读写的块,不同块虚地隔离,具体地,在原静态随机存储器的复数行6管存储单元中每隔两行选取一行将其原有的两个反相器中PMOS晶体管的漏极与NMOS晶体管的漏极的连接点断开形成隔离单元,用于隔离邻近该隔离单元的上下两行6管存储单元的虚地端,从而消灭直流通路,假设一个较大的存储器有1024根字线,16根字线作为一个快,则只有原有的1/64的电容,极大缩短了建立时间,这时,不需要额外的保持模式,只需要在正常读写cell前,地址建立时将快选好即可,在正常读写时,大部分的存储单元仍然处于保持模式,降低了功耗。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州大学,未经苏州大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201720106324.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种砖疗养生窑洞
- 下一篇:一种熔铝炉自动扒渣搅拌装置