[实用新型]一种光纤端面研磨检验装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及光纤加工技术领域，特别涉及一种光纤端面研磨检验装置。

背景技术

现有光通讯各种端面如：PC、UPC、APC、斜平面或其它3D要求的端面，基本是研磨形成。研磨过程遵循研磨切削基本原理：粗磨、细磨、抛光三大主要过程，现有技术中，光纤在研磨加工过程中，需要利用光纤研磨夹具来夹持、固定光纤，当光纤研磨之后，将光纤从光纤研磨夹具取下，再拿到检测仪下对每个光纤的端面进行逐一检查，这种检测方式需要多次拆、装光纤，并且进行多次检测，不仅浪费时间、工作效率低下；同时，对不合格光纤进行二次研磨，则需要重新上夹具进行二次夹持，往往会出现角度偏差，导致研磨后产生2个斜面的问题，影响产品质量。

实用新型内容

鉴于上述问题，本实用新型的目的在于提供一种光纤端面研磨检验装置，解决现有技术中需要对不达标光纤进行重新上夹具，进行二次研磨容易出现产品质量的问题。

本实用新型的完整技术方案是：

本实用新型公开了一种光纤端面研磨检验装置，包括底座、显微镜、电子显示装置和光纤研磨夹具；在所述底座上设置有X轴工作平台、Y轴工作平台和可升降支架；所述显微镜设置在所述可升降支架上；在所述可升降支架上设置有显微镜焦距的调焦机构；在所述底座上还设置有用于供所述Y轴工作平台沿Y轴方向滑动的滑块；所述Y轴工作平台为U型结构；在所述Y轴工作平台的两侧边的内侧上开设有供所述X轴工作平台滑动的滑行槽；所述光纤研磨夹具设置在所述X轴工作平台上，且位于所述显微镜镜头的正下方；在所述Y轴工作平台上设置有X轴移动旋钮和Y轴移动旋钮；所述显微镜与所述电子显示装置电性连接。

进一步的，所述调焦机构包括粗调旋钮和微调旋钮。

进一步的，所述滑块呈L型结构；在所述Y轴工作平台的底面上开设有与所述滑块结构相匹配的滑槽。

进一步的，所述光纤研磨夹具为45度角光纤研磨夹具。

进一步的，所述光纤研磨夹具包括夹具盘体和夹具支撑座；所述夹具盘体为上小下大呈45度角的方形斜面结构；在所述夹具盘体的面部上设置有固定座；所述夹具支撑座的一端连接在所述固定座上；另一端上开设有U型凹槽；在所述夹具支撑座的另一端上还开设夹具固定孔；在所述夹具盘体的四个斜面上均分别设置有光纤固定块；在所述光纤固定块上开设有光纤固定槽；所述夹具支撑座固定在所述X轴工作平台上；所述夹具盘体的底部朝上位于所述显微镜的镜头的正下方。

进一步的，所述夹具支撑座为圆柱形结构。

进一步的，所述固定座为方形结构；在所述固定座的四个角上分别开设有固定孔。

进一步的，在所述光纤固定槽内并排设置有多个U型卡槽。

进一步的，所述光纤固定块的两端具有固定耳；在所述固定耳上开设有安装孔；所述光纤固定块与所述夹具盘体通过紧固件连接。

由上可见，应用本实用新型实施例的技术方案，有如下有益效果：

本实用新型提供了一种光纤端面研磨检验装置，应用该技术方案，在研磨加工光纤端面时，无需将光纤从夹具上拆卸下来进行检测，避免了因二次上夹具返磨时出现角度偏差，导致研磨后产生2个斜面的问题，有效提高了产品质量和工作效率。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，构成本申请的一部分，并不构成对本实用新型的不当限定，在附图中：

图1为本实用新型的立体图结构示意图；

图2为本实用新型的左视图；

图3为本实用新型中光纤研磨夹具的立体图。

具体实施方式

下面将结合附图以及具体实施例来详细说明本实用新型，在此本实用新型的示意性实施例以及说明用来解释本实用新型，但并不作为对本实用新型的限定。

实施例1：

如图1、图2所示，本实用新型公开了一种光纤端面研磨检验装置，包括底座1、显微镜2、电子显示装置3和光纤研磨夹具4；在底座1上设置有X轴工作平台5、Y轴工作平台6和可升降支架7；显微镜2设置在可升降支架7上；在可升降支架7上设置有显微镜2焦距的调焦机构8；在底座1上还设置有用于供Y轴工作平台6沿Y轴方向滑动的滑块9；Y轴工作平台6为U型结构；在Y轴工作平台6的两侧边的内侧上开设有供X轴工作平台5滑动的滑行槽51；光纤研磨夹具4设置在X轴工作平台5上，且位于显微镜2镜头的正下方；在Y轴工作平台6上设置有X轴移动旋钮101和Y轴移动旋钮102；显微镜2与电子显示装置3电性连接。