[实用新型]一种集成电路存储器的测试设备

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种集成电路测试设备，特别涉及一种集成电路存储器的测试设备。

背景技术

Flash存储器广泛应用于各种集成电路产品中，Flash存储器生产厂家需要对其产品进行出厂前的性能测试。

现有技术中，Flash存储器生产厂主要采用大型通用测试设备对存储器进行性能测试，需要配备专业编程员调试、控制设备，大型设备成本高。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是提供一种集成电路存储器的测试设备，应用于集成电路存储器的品质检测工序中，结构简单，人机界面操作简单，整机成本低廉。

为了解决上述技术问题，本实用新型的技术方案为：

一种集成电路存储器的测试设备，包括PCB电路板，所述PCB电路板上焊接有单片机组件、电源适配器、操作键盘、测试程序存储器、操作系统程序存储器、显示屏、测试控制组件及测试接口组件，所述单片机组件通过所述PCB电路板上的导线分别与所述电源适配器、所述操作键盘、所述测试程序存储器、所述操作系统程序存储器、所述显示屏及所述测试接口组件电连接，所述测试控制组件通过所述PCB电路板上的导线分别与所述测试接口组件及所述单片机组件电连接。

优选地，所述单片机组件包括IC插座及单片机，所述单片机安装在所述IC插座上。

优选地，所述测试接口组件包括测试活动插座，所述测试活动插座为24脚的IC插座。

优选地，所述显示屏为LCD液晶显示模块。

优选地，所述PCB电路板上焊接有机械手控制电路组件。

采用上述技术方案，单片机组件、电源适配器、操作键盘、测试程序存储器、操作系统程序存储器、显示屏、测试控制组件及测试接口组件焊接在单一PCB电路板上并通过PCB的导线电连接，以上组件相配合构成Flash存储器测试设备，可代替大型通用测试设备对存储器进行性能测试，该测试设备一体化程度高，操作人员通过操作键盘控制检测流程，并在显示屏实时显示检测、设置信息，人机交换简单友好，整机成本低廉。

附图说明

图1为本实用新型的集成电路测试设备的电路连接示意图。

图中，1-PCB电路板；2-单片机组件；3-电源适配器；4-操作键盘；5-测试程序存储器；6-操作系统程序存储器；7-显示屏；8-测试控制组件；9-测试接口组件；10-导线；11-机械手控制电路组件；12-IC插座；13-单片机；14-24脚IC插座。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型的具体实施方式作进一步说明。在此需要说明的是，对于这些实施方式的说明用于帮助理解本实用新型，但并不构成对本实用新型的限定。此外，下面所描述的本实用新型各个实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。

参照图1所示，一种集成电路存储器的测试设备，包括PCB电路板1，PCB电路板1上焊接有单片机组件2、电源适配器3、操作键盘4、测试程序存储器5、操作系统程序存储器6、显示屏7、测试控制组件8及测试接口组件9，单片机组件2通过PCB电路板1上的导线10分别与电源适配器3、操作键盘4、测试程序存储器5、操作系统程序存储器6、显示屏7及测试接口组件8电连接，测试控制组件8通过PCB电路板1上的导线10分别与测试接口组件9及单片机组件2电连接。单片机组件2、电源适配器3、操作键盘4、测试程序存储器5、操作系统程序存储器6、显示屏7、测试控制组件8及测试接口组件9焊接在单一PCB电路板上并通过PCB电路板1上的导线10电连接，以上组件相配合构成Flash存储器测试设备，可代替大型通用测试设备对存储器进行性能测试，该测试设备一体化程度高，操作人员通过操作键盘4控制检测流程，并在显示屏7实时显示检测、设置信息，人机交换简单友好，整机成本低廉。

单片机组件2包括IC插座12及单片机13，单片机13安装在IC插座12上。IC插座12可跟住生产检测的需求更换主控单片机13芯片。

测试接口组件9包括测试活动插座，测试活动插座为24脚IC插座14。Flash存储器可以为24脚IC，方便测试时随时更换被测芯片。

显示屏7为LCD液晶显示模块(图中未标出)。LCD液晶显示模块7通常出厂时含中文字库，用户可以直接使用，显示信息直观方便。

PCB电路板1上焊接有机械手控制电路组件11。机械手控制电路组件11可以与机械手机构配合适用于大规模的产品检测需要。