[实用新型]多视角背散射检查系统有效

专利信息
申请号: 201720142110.0 申请日: 2017-02-17
公开(公告)号: CN206573504U 公开(公告)日: 2017-10-20
发明(设计)人: 于昊;李荐民;宗春光;李玉兰;刘磊;李元景;迟豪杰;陈志强;张丽 申请(专利权)人: 清华大学;同方威视技术股份有限公司
主分类号: G01N23/203 分类号: G01N23/203
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 代理人: 艾春慧
地址: 10008*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 视角 散射 检查 系统
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及背散射成像技术领域,特别涉及一种多视角背散射检查系统。

背景技术

X射线背散射成像技术是使用笔形X射线束流照射物体,通过探测物体的背散射射线来成像的技术。X射线背散射成像技术具有辐射剂量低、对轻质材料敏感、图像直观等优点,被广泛应用在人体、货物、车辆的安全检查领域,适用于检查藏匿的毒品和爆炸物。背散射成像用的X射线穿透力较低,只能对检查目标的表面的浅层成像。

多视角背散射检查系统可以对检查目标的多个表面成像,从而可以得到检查目标更多的信息。

美国科技工程公司的申请号为CN1947001A、实用新型名称为“通过确保在一个时刻只有一个源在发射辐射而对包括多个源的反向散射检查入口中的串扰的消除”的中国专利申请公开了一种采用多个穿透性辐射源检查物体的检查系统和检查方法。如图1所示,该中国专利申请描述的检查系统有多个旋转式笔形束射线源,用于产生多个束流面,且多个束流面大致共面。该实用新型提出使每个射线源在其工作周期中只出束一段时间,通过使不同射线源的出束时间错开,达到在任意时刻只有一个射线源出束的效果,从而消除多个束流面的互相干扰。图1中各附图标记分别代表:10-检查系统,12-横穿入口,13、15、17-源,18-检查目标,23、24、25、26、27、28-波束,30-X射线,31、32、33、34、35、36-检测器,40-处理器,42-检查目标的内部特征,44-散射射线。

在实现本申请的过程中,设计人员发现以上中国专利申请公开的技术方案具有如下足之处:

每个射线源分时出束,虽然解决了多视角的互相干扰问题,但引起了每个视角输出辐射平均剂量率的降低。在每个射线源的功率固定的情况下,出束时间占工作周期的比例越大,则输出辐射平均剂量率越大,图像质量越好。如图1所示的检查系统中,每个射线源出束时间最多只占工作周期的1/3,即输出辐射平均剂量率是单视角的1/3,从而图像质量会远差于单视角系统。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种多视角背散射检查系统,旨在有效减少多视角同时出束时彼此之间的相互干扰,提高检查图像质量。

本实用新型提供一种多视角背散射检查系统,包括检查通道、至少两个检查单元、控制装置和数据处理装置;其中,

各所述检查单元包括射线源和探测器阵列,所述射线源用于产生旋转的笔形射线束流,所述探测器阵列用于接收射线束流照射到检测目标后形成的背散射射线,所述探测器阵列包括布置在不同位置且相互独立的至少两个探测器模块;

所述至少两个检查单元设置于所述检查通道的外周的不同周向位置形成至少两个不同的视角,且布置为任一所述检查单元的射线源产生的射线束流直射到其余检查单元的探测器阵列外部;

所述控制装置与各所述射线源耦合并控制各射线源的射线束流之间的相位差,以在检查过程中使任意时刻各探测器阵列的有效探测区域远离强干扰区域,所述有效探测区域为探测器阵列接收同一检查单元的背散射信号最大的位置及附近区域,所述强干扰区域为探测器阵列接收其它检查单元的散射信号最大的位置及附近区域;

所述数据处理装置与各所述探测器阵列耦合以接收各所述探测器模块的探测信号并根据各所述探测器模块的探测信号形成各时刻各探测器阵列对应的检查图像,其中,形成某一时刻某一探测器阵列对应的检查图像时,所述数据处理装置计算该时刻该探测器阵列的所述有效探测区域,对有效探测区域内的探测器模块的探测信号进行处理形成该时刻检查目标位于该探测器阵列一侧的检查图像。

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