[实用新型]一种纳米激光粒度分布测定仪

说明书

技术领域

本实用新型涉及测量技术领域，具体涉及一种纳米激光粒度分布测定仪。

背景技术

随图像传感器件CCD和CMOS的发展，基于图像法测量原理的颗粒粒度测量仪器近年来也有较快发展。该类仪器是直接测量每个颗粒的影像，计算和统计每个被测颗粒的粒度，得到被测颗粒的粒度分布和平均粒径。图像法粒度测量仪的特点是对每个颗粒的粒度进行测量，获得的粒度分布准确性较高，其测量上限与镜头的放大倍率和图像传感器件的传感面积尺寸有关。但受光学原理的限制，图像法颗粒粒度仪器测量下限在一般1微米左右，小于该下限的颗粒测量误差就会显著增加，或无法测量。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型提供一种纳米激光粒度分布测定仪，以解决现有技术中的问题。

本实用新型提供一种纳米激光粒度分布测定仪，其特征在于：所述纳米激光粒度分布测定仪采用采用面阵图像传感器作为测量元件，在所述面阵图像传感器下布置显微物镜，所述显微物镜的焦面上置有样品池，样品池下置有激光源，所述激光源通过固定座设置于一导轨上，所述导轨为半圆形导轨，内部设有第一腔体；所述固定座通过第一套孔套装于所述导轨的第一侧，通过所述固定座，所述激光源可以沿所述导轨以5-90度的θ角入射到所述样品池上。

优选地，所述固定座中心设有一端开口的第二腔体，所述第二腔体内部设有锁紧装置；所述锁紧装置包括：

活动按钮，所述活动按钮通过第二套孔套装于所述导轨的第一侧所述活动按钮的第一端穿过所述中第二腔体的开口端延伸至所述固定座的外部；以及

回位弹簧，所述回位弹簧的第一端固定于所述第二腔体的封闭端，所述回位弹簧的第二端连接所述活动按钮的第二端；

所述第二套孔的第一侧设有活动锯齿，所述导轨的第一腔体的第一侧设有固定锯齿，所述活动锯齿和所述固定锯齿相匹配；

所述活动按钮可以在所述固定座的第二腔体内活动，当给所述活动按钮施加一个第一方向的力时，所述活动按钮向着所述第二腔体的封闭端运动，同时压缩所述回位弹簧，此时，所述活动锯齿和所述固定锯齿的咬合状态解除，所述固定座可以沿着所述导轨移动；当施加于所述活动按钮上的力解除时，所述活动按钮在所述回位弹簧的回复力的作用下向着所述第二腔体的开口端运动，所述活动锯齿和所述固定锯齿重新回复咬合的状态，即将所述固定座锁定。

优选地，所述的样品池为比色皿或载波片。

优选地，所述的面阵图像传感器为CCD或CMOS器件。

优选地，所述的激光源为半导体激光器LD或光纤激光器。

本实用新型的纳米激光粒度分布测定仪的激光源通过固定座设置于一导轨上，所述导轨为半圆形导轨，内部设有第一腔体；所述固定座通过第一套孔套装于所述导轨的第一侧，通过所述固定座，所述激光源可以沿所述导轨以5-90度的θ角入射到所述样品池上。

附图说明

图1是本实用新型的纳米激光粒度分布测定仪的结构示意图；

图2是本实用新型的固定底座和导轨的结构示意图。

具体实施方式

为了更好的理解本实用新型，下面结合具体实施例和附图对本实用新型进行进一步的描述。

如图1和图2所示，本实用新型提供有一种纳米激光粒度分布测定仪，所述纳米激光粒度分布测定仪采用采用面阵图像传感器1作为测量元件，在所述面阵图像传感器1下布置显微物镜2，所述显微物镜2的焦面上置有样品池3，样品池3下置有激光源4，所述激光源4通过固定座5设置于一导轨6上，所述导轨6为半圆形导轨，内部设有第一腔体601；所述固定座5通过第一套孔501套装于所述导轨6的第一侧602，通过所述固定座5，所述激光源4可以沿所述导轨6以5-90度的θ角入射到所述样品池上。

当测量纳米颗粒时，打开激光源4，所述激光源4发出的激光照射到被测纳米颗粒样品7，纳米颗粒因布朗运动产生的动态光散射信号通过显微物镜被面阵图像传感器1接收，获得的信号送到计算机进行数据处理，得到颗粒粒度分布和形状因子参数。

测量纳米颗粒时，所述激光源4发光照亮样品池3上的纳米颗粒样品7，纳米颗粒散射入射光，产生的动态散射光经显微物镜2收集，后由图像传感器1检测，得到的动态光散射信号送到计算机进行数据处理，得到颗粒粒度分布。

进一步地，所述固定座5中心设有一端开口的第二腔体501，所述第二腔体501内部设有锁紧装置8；所述锁紧装置包括：活动按钮801以及回位弹簧802。