[实用新型]一种光学元件制备过程中的拉拔力检测装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种光学元件制备过程中的拉拔力检测装置，属于光学元件冷加工技术领域。

背景技术

本申请中的拉拔力是指拉拔过程克服材料的变形抗力和材料与模壁的粘结力的合力。工程中的拉拔力要求决定了产品的稳定性和信赖性。

现有的光学元件加工工程中没有明确的检测方法和装置，只是根据经验值和随意破坏性试验进行粗略判断，误差大，准确性不高。

实用新型内容

本实用新型针对现有技术中存在的以上问题采用高精度拉拔力测试仪的搭载装置，有效的解决了测量不安定的因素，测量数据准确，安定，并且提高了测量效率，减少了对产品破坏数量的要求。

本实用新型的技术方案为：

一种光学元件制备过程中的拉拔力检测装置，该检测装置包括压力机和与压力机固定连接的测力单元，压力机的底座上固定有基板，桶形保持器设置在所述基板上并位于所述测力单元正下方。

优选地，所述压力机为手动压力机，该手动压力机的活动连杆通过传动机构与六角承座相关联，活动连杆的转动带动六角承座上下运动，所述六角承座与所述测力单元固定连接。

优选地，所述六角承座通过L形保持板与所述测力单元固定连接，L形保持板的一段固定在六角承座下端，L形保持板的另一端与测力单元固定。

优选地，所述测力单元为测力计。

附图说明

为了更容易理解本实用新型的技术方案和有益的技术效果，通过参照在附图中示出的本实用新型的具体实施方式来对本申请进行详细的描述。该附图仅绘出了本申请的典型实施方式，并不构成对本申请的保护范围的限制，其中：

图1是根据本实用新型的一个实施方式的光学元件制备过程中的拉拔力检测装置的主视图。

图2是图1中所述检测装置的侧视图。

在图1-2中标示出的附图标记中：

1：手动压力机；2：测力计；3：六角承座：4：镜头；5：保持板；6：连接螺栓；7：基板；8：桶形保持器；9：第一螺钉；10：第二螺钉。

具体实施方式

图1是根据本实用新型的一个实施方式的光学元件制备过程中的拉拔力检测装置的主视图，图2是图1中所述检测装置的侧视图。如图所示，该检测装置包括手动压力机1和测力计2，手动压力机1的活动连杆通过传动机构与六角承座3相关联，活动连杆的转动带动六角承座3上下运动，手动压力机1的底座上通过第一螺钉9固定有基板7，L形保持板5的一段通过连接螺栓6固定在六角承座3下端，L形保持板5的另一端通过第二螺钉10与测力计2固定，桶形保持器8设置在所述基板7上并位于所述测力计2正下方，镜头4放置在桶形保持器8上，通过测力计2的下压或者上拉，对镜头的镜片和镜头之间的拉拔力进行准确检测。

本申请的检测装置的工作原理如下：

通过测试件因外力作用产生变形,其内部各部分之间因相对位置的变化而引起的相互作用称为内力.众所周知,即使不受外力,物体各质点间也存在相互作用力.我们所称的内力,是在外力作用下,上述各作用力的变化量,随着该变化量的逐渐加大,物体内部发生一系列的物理变化,当到达某一极限时,物体就会被破坏,该极限与物体的强度有直接关系.将光学元件简化为一个杆件.杆件受到外力F作用,在其任意横截面上均产生内力F.一般情况下截面上的内力并不是均匀分布的,因此,用单位横截面上的内力,即部件强度来表示材料抗破坏与变形的能力.由于横截面积随着构件不断被拉伸而逐渐减小。对于受拉伸或压缩的光学元件，根据光学元件受力时横截面保持为平面的假设，则横截面上无剪应力τ,而其正应力σ为均匀分布，其值等于轴力N除以横截面面积A，即σ＝N/A；当光学元件在线弹性范围内工作时，根据胡克定律(见材料力学)，杆内一点处的轴向(纵向)线应变为ε＝σ/E(E为元件的拉、压弹性模量)；在轴力N为常量的长度L范围内，绝对线变形ΔL的计算公式为ΔL＝NL/EA。

在产品性能测试中，除了要测出应力，经常还要了解材料经拉伸后的变形程度。

一旦超过此外力，变形与外力之间比例关系也即破坏。如果弹性变形的非比例阶段，时间很短，要靠很精密的仪器才能测量得出，本装置可以实现此阶段的精密测量。

测量过程：测量前需根据要测量光学元件的尺寸大小调整测量台的高度，及设计工装夹具的放置。调整好后，将光学元件放在工装夹具中，将测力计归零，根据要测量的是拉伸还是下压，选择模式，然后只需拉伸或下压压力机手臂，动作完毕后，测量数据就会自动保存到测力计中，随时可调出使用。

本申请的检测装置操作简单，测量准确并且可以输出测量数据。

本实用新型可以以其他具体的形式进行体现，但并不会脱离本实用新型的保护范围，本实用新型的保护范围仅由所附的权利要求限定。