[实用新型]平板陶瓷膜宏观缺陷检测装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及平板陶瓷膜的宏观缺陷检测技术，特别是一种检测方法及检测装置。

背景技术

平板陶瓷膜是新兴的一种处理水的过滤膜，其在耐候性及耐酸碱蚀方面有巨大优势。但在生产过程中平板陶瓷膜的支撑体及膜层会有宏观缺陷出现，宏观缺陷对陶瓷膜的性能有很多的影响，所以在生产过程中需要筛选剔除。

目前，陶瓷平板膜的宏观缺陷检测测试主要由工人逐一检查，甄别出不合格品。人眼检测的缺点在于易漏选，耗费人力物力，效率低，不适用于大规模生产。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种方法及装置可以提高宏观检测的效率，降低人力物力消耗，节约资源，提高检测效率。

为此本实用新型采用的技术方案是：本实用新型包括主传送带（13），主传送带（13）前端设置检测模块，以及位于所述检测模块后端的若干推送模块；

所述检测模块包括前后设置的若干测距传感模块及数据处理模块；

所述主传送带（13）侧部位于所述推送模块的区域设置有副传送带，所述主传送带（13）和副传送带垂直设置；

所述推送模块位于主传送带（13）相对副传送带的另一侧，包括挡板（8）、气缸（9）、导向杆（10），所述挡板（8）由所述气缸（9）推动将陶瓷膜推向副传送带，所述挡板（8）由位于所述挡板（8）两侧的导向杆（10）导向。

所述检测模块包括前后设置的第一测距传感模块及数据处理模块（2）和第二测距传感模块及数据处理模块（3），各检测模块均包括信号发射装置、信号接受装置、信号放大装置、单片机和储存装置。

所述推送模块还包括升降台（11），所述升降台（11）位于所述主传送带（13）的上部并可上下升降和陶瓷膜接触。

所述检测模块前端设置清扫除尘模机（1）。

本实用新型的优点是：本实用新型采用自动化的检测装置，实现了平板陶瓷膜缺陷的自动化识别，相比传统的人工处理方式，不但处理效率大大提高，同时检测的精确度也大大提高，适用于工业化大规模生产。

附图说明

图1 检测方法流程示意图；

图2 检测装置结构示意图；

图中1为清扫除尘机，2为第一测距传感模块及数据处理模块，3为第二测距传感模块及数据处理模块，4为废品区，5为合格品区，6为次品一区，7为次品二区，8为挡板，9为气缸，10为导向杆，11为升降台，12为信号感应处理器，13为主传送带，14为废品传送带，15为废品推送器，16为次品一区传送带，17为次品一区推送器，18为次品二区传送带，19为次品二区推送器。

具体实施方式

本实用新型检测前清洁处理，通过清扫除尘机1，除去表面粉尘。

上述步骤完成后，进入检测装置，第一测距传感模块收集数据，发送数据给第一数据处理模块；第一数据处理模块处理数据后，输出信号，筛选出废品，确定产品是否进入下一阶段检测。

上述步骤完成后，第二测距传感模块收集数据，发送数据给第二数据处理模块，输出信号，筛选出合格品、次品、废品，然后传送到相应区域。

上述内容中的第一、二测距传感模块与对应的第一、二数据处理模块采用分段式收集、处理数据，并分段式发送信号的处理模式，根据所做产品的尺寸，本着节约，提高产品合格率的原则，由大尺寸制作成小尺寸产品，选择分几段处理的方式。

为了实现本实用新型还提供了一种检测装置，其使用特征表现在：

上述检测方法中的清扫除尘机1，用于检测前除去产品表面浮尘，减少信号干扰。

上述检测方法中的第一测距传感模块，第二测距传感模块，包括信号发射装置、信号接受装置、信号放大装置，传感模块发射光信号或者声波信号，接收返回的信号并转化为电信号，将信号放大，进行数据处理后获取平面上点的数据，并将数据传输给数据处理模块。测距传感器可精确到纳米级。

上述检测方法中的第一数据处理模块，第二数据处理模块，主要由单片机组成，用于接受传感器的输出数据，分析计算平面上点的数据，甄别出明显有别于缺陷点周围的数据，并将数据的参数值储存，数据处理完成后，向推送器发出指令信号。

上述检测方法中的推送模块有三个，分别为废品推送器15，次品一区推送器17，次品二区推送器19。均由挡板8，气缸9，导向杆10，升降台11，信号感应处理器12组成。推送器安置在主传送带13的不同位置，用于接受数据处理模块输出的信号，进行合格品，次品，废品的筛选。

本实用新型的具体工作过程为：