[实用新型]一种光学膜缺陷检测装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及光学检测技术领域，特别是涉及一种光学膜缺陷检测装置。

背景技术

在光学应用领域，广泛使用各类透明或者半透明光学膜，用于进行导光、增亮、聚光、反射、折射等光学处理，这类光学膜片由塑料制成，广泛应用于Led背光源、液晶背光源、工业光源、光学设备等领域。

光学膜属于较为精密的光学元件，若膜片存在黑点、白点、褶皱、弯折、凹凸等瑕疵，会极大影响光学膜对光的处理效果，甚至造成相关设备的重大缺陷，因此对光学膜进行缺陷检测具有重要价值。

现有技术中，光学膜的缺陷检测方法是，使用光源投射光到光学膜，使用高分辨相机拍摄光学膜图像，从图像中识别和发现膜片中存在的各类缺陷。但是该检测方法对膜片中存在的一些缺陷并不能有效检测出，比如膜中存在的较浅黑点、白点、褶皱，尤其是微小的凹凸等成像效果不明显，通过图像难以识别出。

实用新型内容

鉴于此，本实用新型提供一种光学膜缺陷检测装置，实现了对光学膜更为有效的图像呈现，实现对光学膜更加有效的缺陷检测。

为实现上述目的，本实用新型提供一种光学膜缺陷检测装置，包括：

用于产生偏振光投射到光学膜一面的光源；

用于在所述光学膜一侧接收偏振光经过所述光学膜后出射的光、形成光学膜图像的成像设备；

用于在获得的所述光学膜图像中根据图像灰度变化识别出缺陷部位的图像处理系统。

可选的，所述光源包括用于产生自然光的第一光源以及用于选通自然光中特定偏振方向光线的偏振器件。

可选的，所述光源包括用于产生自然光的第一光源，以及接收所述第一光源以布懦斯特角入射的光的介质界面。

可选的，在所述成像设备感光面一侧设置有用于通过所述光学膜出射光中特定偏振方向光线的偏振器件。

可选的，在所述光源光出射一侧设置有偏振片。

可选的，所述光源和用于接收偏振光经过所述光学膜透射的光并形成光学膜图像的所述成像设备分别位于所述光学膜的两侧。

可选的，还包括底座和与所述底座连接的立杆，所述成像设备设置在所述底座内，所述底座具有用于放置光学膜的光窗；

所述光源设置在所述立杆上，且正对所述光窗。

可选的，所述成像设备和用于接收偏振光经过所述光学膜反射的光并形成光学膜图像的所述光源设置在所述光学膜的同一侧。

可选的，所述光源包括可见光光源、紫外光光源或者红外光光源。

可选的，所述光源包括发光二极管或者激光器。

由上述技术方案可知，本实用新型所提供的光学膜缺陷检测装置，包括光源、成像设备和图像处理系统。光源产生偏振光，投射到光学膜一面，成像设备在光学膜一侧接收偏振光经过光学膜后出射的光，并形成光学膜图像；图像处理系统在获得的光学膜图像中根据图像灰度变化识别出缺陷部位，从而实现对光学膜的缺陷检测。

光学膜具有对光传播方向一致的光学特性，若光学膜中存在瑕疵，在瑕疵部位光传播方向一致性被破坏，以偏振光照射光学膜形成光学膜的偏振图像，在偏振图像中瑕疵部位会表现出明显的明暗变化，从而通过光学膜的偏振图像可以有效地识别出光学膜中的缺陷。因此，本实用新型光学膜缺陷检测装置，实现了对光学膜更为有效的图像呈现，实现对光学膜更加有效的缺陷检测。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型实施例提供的一种光学膜缺陷检测装置的示意图；

图2为本实用新型又一实施例提供的一种光学膜缺陷检测装置的示意图；

图3为本实用新型实施例提供的一种光学膜缺陷检测装置的结构示意图。

具体实施方式

本实用新型提供一种光学膜缺陷检测装置，实现了对光学膜更为有效的图像呈现，实现对光学膜更加有效的缺陷检测。

本实用新型提供的一种光学膜缺陷检测装置，包括：

用于产生偏振光投射到光学膜一面的光源；

用于在所述光学膜一侧接收偏振光经过所述光学膜后出射的光、形成光学膜图像的成像设备；