[实用新型]LiNbO3相位调制器性能检测系统有效

专利信息
申请号: 201720174990.X 申请日: 2017-02-24
公开(公告)号: CN206556842U 公开(公告)日: 2017-10-13
发明(设计)人: 肖浩;李建光;雷军;刘博阳;郝琰 申请(专利权)人: 北京世维通光智能科技有限公司
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00;G01R35/02
代理公司: 北京邦信阳专利商标代理有限公司11012 代理人: 刘金峰
地址: 065201 河北省廊坊市*** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: linbo3 相位 调制器 性能 检测 系统
【权利要求书】:

1.一种LiNbO3相位调制器性能检测系统,其特征在于,包括:

偏振光输出元件,其输出端与待测LiNbO3相位调制器的输入端连接,所述待测LiNbO3相位调制器的电信号接入端输入调制信号;

保偏光纤环,其第一端与所述待测LiNbO3相位调制器的输出端连接;

敏感元件,感应通电导体内的基准电流值,与所述保偏光纤环的第二端连接;所述偏振光输出元件输出的偏振光经所述待测LiNbO3相位调制器、所述保偏光纤环、所述敏感元件后原路返回,返回后的线偏振光发生干涉;

探测器,检测干涉光强,并得到与所述干涉光强对应的电信号;

信号处理单元,接收所述探测器发送的电信号,解析后得到测量电流值;

误差计算单元,接收所述信号处理单元发送的所述测量电流值,根据所述基准电流值以及所述测量电流值得到所述待测LiNbO3相位调制器在所处环境下引入的测量误差。

2.根据权利要求1所述的LiNbO3相位调制器性能检测系统,其特征在于:

所述敏感元件,包括光纤环以及分别设置于所述光纤环两端的光纤波片和反射镜,所述光纤环内有通电导体穿过,所述光纤波片与所述保偏光纤环的第二端连接。

3.根据权利要求2所述的LiNbO3相位调制器性能检测系统,其特征在于,所述待测LiNbO3相位调制器为直条型LiNbO3相位调制器时,所述偏振光输出元件包括光源、耦合器和起偏器,其中:

所述光源发出的光经所述耦合器后进入所述起偏器输入端,以产生线偏振光;

所述起偏器的输出端与所述直条型LiNbO3相位调制器的输入端采用45度对轴角进行熔接;

所述直条型LiNbO3相位调制器的输出端与所述保偏光纤环的第一端采用0度对轴角进行熔接。

4.根据权利要求2所述的LiNbO3相位调制器性能检测系统,其特征在于,所述待测LiNbO3相位调制器为Y型LiNbO3相位调制器时,所述偏振光输出元件包括光源和耦合器,且所述保偏光纤环的第一端通过偏振合束器与所述Y型LiNbO3相位调制器的输出端连接,其中:

所述光源发出的光输入至所述耦合器;

所述耦合器的输出端与所述Y型LiNbO3相位调制器的输入端采用0度对轴角进行熔接;

所述Y型LiNbO3相位调制器的一个输出端与所述偏振合束器的一个输入端采用0度对轴角进行熔接,所述Y型LiNbO3相位调制器的另一个输出端与所述偏振合束器的另一个输入端采用90度对轴角进行熔接;

所述偏振合束器的输出端与所述保偏光纤环的第一端采用0度对轴角进行熔接。

5.根据权利要求1-4任一项所述的LiNbO3相位调制器性能检测系统,其特征在于,还包括:

环境发生器,所述待测LiNbO3相位调制器置于所述环境发生器内部,所述环境发生器响应上位机的控制信号模拟所述待测LiNbO3相位调制器所处环境。

6.根据权利要求5所述的LiNbO3相位调制器性能检测系统,其特征在于:

所述环境发生器模拟的所述待测LiNbO3相位调制器所处环境包括:温度、湿度、振动、冲击和辐照中的至少一种。

7.根据权利要求6所述的LiNbO3相位调制器性能检测系统,其特征在于,还包括:

电流发生器,输出预设电流至所述通电导体;

基准互感器,检测所述电流发生器输出预设电流的电流值,作为所述通电导体中的基准电流值。

8.根据权利要求7所述的LiNbO3相位调制器性能检测系统,其特征在于:

所述误差计算单元,获取所述基准互感器检测的通电导体中的基准电流值,根据所述基准电流值以及所述测量电流值得到所述待测LiNbO3相位调制器在所处环境下引入的测量误差;

所述误差计算单元发送所述测量误差至所述上位机。

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