[实用新型]一种用于样品磨抛的试验装置

权利要求书

1.一种用于样品磨抛的试验装置，包括磨抛机构、样品定位机构以及遮挡机构，样品定位机构及遮挡机构位于磨抛机构上方，其特征在于：

遮挡机构包括固定盖板与移动盖板，固定盖板中具有滑孔，磨抛机构中部具有定位轴，定位轴伸入滑孔中，定位轴与滑孔为间隙配合，使定位轴可在滑孔中转动，定位轴侧壁具有限位环，使固定盖板与磨抛机构之间保持一定间距，移动盖板边缘具有悬杆，悬杆与磨抛机构表面相互平行，使移动盖板与磨抛机构之间保持一定间距，悬杆向外侧伸出，其末端与支杆相接，固定盖板与移动盖板之间具有可限制样品位置的卡口。

2.根据权利要求1所述的一种用于样品磨抛的试验装置，其特征在于：

支杆中具有连接孔，悬杆具有连接端头，连接端头伸入连接孔内，连接端头与连接孔之间具有相互配合的螺纹，使悬杆可在支杆上调节位置。

3.根据权利要求1所述的一种用于样品磨抛的试验装置，其特征在于：

磨抛机构包括磨盘，磨盘中部具有转动轴，转动轴向下方伸出，并与驱动电机的动力输出轴相连，由驱动电机带动磨盘转动。

4.根据权利要求1所述的一种用于样品磨抛的试验装置，其特征在于：

样品定位机构包括立柱，立柱向上方伸出，其顶端设有横杆，横杆伸向磨抛机构上方，并与立柱相互垂直，横杆末端设有顶压杆，顶压杆向下方伸出，并与横杆相互垂直，顶压杆末端与磨抛机构之间具有可放置样品的间隙，由顶压杆将样品紧贴于磨抛机构表面。

5.根据权利要求4所述的一种用于样品磨抛的试验装置，其特征在于：

横杆中具有定位螺孔，顶压杆顶端具有螺纹段，螺纹段伸入定位螺孔内，使顶压杆可在横杆上调节位置。