[实用新型]卡片感应高度测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测试设备，尤其是涉及一种卡片感应高度测试装置。

背景技术

非接触智能卡产品，具有传输速度快，交易时间短等特点，特别适用于使用环境恶劣，要求响应速度快、安全性高、功能需求复杂的场合。集成电路在生产中为了保证质量，需要尽可能的提高测试覆盖率。

现有的非接触智能卡测试需要涉及多方面的测试数据，其中包括智能卡的感应距离，传统的测试智能卡感应距离的方法是通过刻度尺配合读卡器来完成测试方案，而得出的测试数据是通过刻度尺的读取数值获得的，是一个大概值而非准确值，不利于非接触智能卡产品质量的有效测试。

实用新型内容

基于此，有必要针对现有技术的不足，提供一种卡片感应高度测试装置，能有效提升智能卡感应距离的测试精度，提升产品质量监控。

为解决上述技术问题，本实用新型所采用的技术方案是：一种卡片感应高度测试装置，其包括基台，所述基台一侧连接有主控装置，所述基台上设置有测试架，所述测试架包括测试丝杆，所述测试丝杆上卡持设置有测试台，所述测试架一侧设置有驱动装置，所述主控装置与驱动装置电性连接，所述驱动装置与测试丝杆连接，所述测试架下端部安设有读卡装置。

在其中一个实施例中，所述测试架垂直设置。

在其中一个实施例中，所述测试架还包括测试罩，所述测试罩遮覆在测试丝杆外侧部，所述测试罩一侧垂直开设有滑槽，所述测试台凸伸出滑槽外侧，所述测试台沿滑槽方向上下来回运作。

在其中一个实施例中，所述主控装置连接有频谱测试仪。

在其中一个实施例中，所述驱动装置为伺服电机。

综上所述，本实用新型卡片感应高度测试装置通过在基台上设置测试丝杆，配合测试台在测试丝杆上运作，通过位于测试丝杆下端部的读卡装置对放置在测试台上的智能卡进行检测，当读卡装置检测到智能卡的读写数据后，测试丝杆停止运作，进而获得读卡装置与智能卡之间的实时距离，得到的智能卡感应距离数据精度高，依据性强。

附图说明

图1为本实用新型卡片感应高度测试装置的结构示意图。

具体实施方式

为能进一步了解本实用新型的特征、技术手段以及所达到的具体目的、功能，下面结合附图与具体实施方式对本实用新型作进一步详细描述。

如图1所示，本实用新型卡片感应高度测试装置包括基台100，所述基台100一侧连接有主控装置200，所述基台100上垂直设置有测试架300，所述测试架300包括测试丝杆10及测试罩20，所述测试罩20遮覆在测试丝杆10外侧部，用以保护测试丝杆10及增加产品美观性，所述测试罩20一侧垂直开设有滑槽21；所述测试丝杆10上卡持设置有测试台30，所述测试台30凸伸出滑槽21外侧，所述测试台30沿滑槽21方向上下来回运作，所述测试台30上放置待测智能卡，用以检测智能卡的读写感应距离。

所述测试架300一侧设置有驱动装置40，所述驱动装置40为伺服电机，所述主控装置200与驱动装置40电性连接，用以控制驱动装置40停止或运作；所述驱动装置40与测试丝杆10连接，用以带动测试丝杆10转动，所述测试架300下端部安设有读卡装置50，用以检测智能卡的读写距离，在智能卡随着测试台30移送到读卡装置50的感应距离内后，读卡装置50将检测信息反馈给主控装置200，主控装置200控制驱动装置40停止运作，并读取到读卡装置50与智能卡之间的实时距离，得到的智能卡感应距离数据精度高，依据性强，其中，智能卡测试感应距离精度可达0.1mm。

在其中一个实施例中，所述主控装置200连接有频谱测试仪400，所述读卡装置50感应到智能卡的读写频率后，通过频谱测试仪400更直观地展现出来，提升了本实用新型装置的实用性。

综上所述，本实用新型卡片感应高度测试装置通过在基台100上设置测试丝杆10，配合测试台30在测试丝杆10上运作，通过位于测试丝杆10下端部的读卡装置50对放置在测试台30上的智能卡进行检测，当读卡装置50检测到智能卡的读写数据后，测试丝杆10停止运作，进而获得读卡装置50与智能卡之间的实时距离，得到的智能卡感应距离数据精度高，依据性强。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型的保护范围应以所附权利要求为准。