[实用新型]一种基于双Dove镜下的光学同轴和离轴干涉相位成像系统有效
申请号: | 201720274506.0 | 申请日: | 2017-03-21 |
公开(公告)号: | CN206601102U | 公开(公告)日: | 2017-10-31 |
发明(设计)人: | 廖景荣;刘景业;徐媛媛 | 申请(专利权)人: | 江苏大学 |
主分类号: | G01B11/06 | 分类号: | G01B11/06;G01B9/02;G01N21/45 |
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地址: | 212013 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 dove 光学 同轴 干涉 相位 成像 系统 | ||
1.一种基于双Dove镜下的光学同轴和离轴干涉相位成像系统,其特征在于,包括光束整形系统、干涉系统和成像系统;所述光束整形系统位于光源光路上,用于放大光束,且产生平行光束;
所述干涉系统包括第一全反镜(7)、第二全反镜(8)、BS镜(6)和双Dove镜(10),所述双Dove镜(10)包括第一Dove镜(13)和第二Dove镜(14),所述第二Dove镜(14)底面与第一Dove镜(13)底面相向胶合,且底面镀半透半反膜;所述BS镜(6)位于所述光束整形系统产生的平行光束的光路上,将入射的平行光束反射,使反射光束与入射光束夹角为90°,第一全反镜(7)和第二全反镜(8)位于所述BS镜(6)反射光光路上;所述双Dove镜(10)位于第一全反镜(7)和第二全反镜(8)的反射光路上;所述第二全反镜(8)上放置样品(9);所述第一全反镜(7)反射的光束为参考光,所述第二全反镜(8)反射的光束为物光,所述参考光和物光经过BS镜(6)透射到双Dove镜(10);第一全反镜(7)和第二全反镜(8)将参考光和物光合并;
所述成像系统包括显微物镜(11)和CCD(12);所述显微物镜(11)位于所述双Dove镜(10)上方,用于放大接收到的所述参考光和物光;所述CCD(12)集成在显微物镜(11)上,用于记录和分析参考光和物光的像。
2.根据权利要求1所述的基于双Dove镜下的光学同轴和离轴干涉相位成像系统,其特征在于,所述光束整形系统包括在光源传输方向上依次排列的激光器(1)、第一透镜(3)、针孔滤波器(4)和第二透镜(5),针孔滤波器(4)位于第一透镜(3)的右焦点上,第二透镜(5)的左焦点与第一透镜(3)的右焦点共焦。
3.根据权利要求1所述的基于双Dove镜下的光学同轴和离轴干涉相位成像系统,其特征在于,所述第一全反镜(7)与第二全反镜(8)的距离为1-2mm。
4.根据权利要求1所述的基于双Dove镜下的光学同轴和离轴干涉相位成像系统,其特征在于,所述第一全反镜(7)上设有角度调节器,用于调整第一全反镜(7)与水平的夹角。
5.根据权利要求2所述的基于双Dove镜下的光学同轴和离轴干涉相位成像系统,其特征在于,所述光束整形系统还包括滤光片(2),位于激光器(1)和第一透镜(3)之间,用于削弱光强。
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