[实用新型]智能手机自动感光芯片自动化测试系统有效

专利信息
申请号: 201720279189.1 申请日: 2017-03-21
公开(公告)号: CN206897883U 公开(公告)日: 2018-01-19
发明(设计)人: 禹乾勋;赵勇 申请(专利权)人: 深圳市华宇半导体有限公司
主分类号: B07C5/344 分类号: B07C5/344;G01R31/28
代理公司: 深圳市神州联合知识产权代理事务所(普通合伙)44324 代理人: 周松强
地址: 518000 广东省深圳市宝安区西乡街道*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 智能手机 自动 感光 芯片 自动化 测试 系统
【权利要求书】:

1.一种智能手机自动感光芯片自动化测试系统,其特征在于,该系统包括V50测试机、测试DUT和机械手,所述机械手设置在V50测试机上,且所述V50测试机上设置有遮挡板和测试平台;待测感光芯片放置在测试平台上后,所述V50测试机与测试DUT连接,所述测试DUT与待测感光芯片连接,且所述机械手与待测感光芯片连接;所述机械手与遮挡板驱动连接。

2.如权利要求1所述的智能手机自动感光芯片自动化测试系统,其特征在于,所述V50测试机上设有安装架、取料站和分料盒,所述机械手安装在安装架上,且所述安装架与机械手驱动连接;所述测试平台、取料站和分料盒均设置在安装架的下方,且所述机械手在安装架上滑动。

3.如权利要求2所述的智能手机自动感光芯片自动化测试系统,其特征在于,所述V50测试机上还设有振动盘和直线振动轨道,所述直线振动轨道的一端与振动盘相连,所述直线振动轨道的另一端与取料站相连,且所述V50测试机分别与振动盘和直线振动轨道驱动连接。

4.如权利要求1所述的智能手机自动感光芯片自动化测试系统,其特征在于,所述V50测试机上设有电源模块和数字通道模块,所述电源模块和数字通道模块均与测试DUT连接。

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