[实用新型]一种核辐射探测仪有效
申请号: | 201720280958.X | 申请日: | 2017-03-22 |
公开(公告)号: | CN207181706U | 公开(公告)日: | 2018-04-03 |
发明(设计)人: | 薛鸿军 | 申请(专利权)人: | 天津希福科技有限公司 |
主分类号: | G01T1/202 | 分类号: | G01T1/202 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 300000 天津市武清区下朱*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 核辐射 探测仪 | ||
技术领域
本实用新型涉及核辐射探测技术领域,尤其涉及一种核辐射探测仪。
背景技术
核辐射测量技术综合性很强,涉及到核辐射探测、电子技术、计算机技术等多个相互交叉渗透的学科。它具有现场、快速、多参数、安全、经济、适用和不受电磁波干扰等特点,在地质学和环境监测等诸多领域已经成为一种重要的物质成分分析手段,也是核医学、生物学、化学和考古学等学科部门的辅助研究手段。核辐射探测器因采用的射线传感器不同可分为气体探测器、闪烁探测器、半导体探测器等。闪烁探测器具有探测效率高、价格低廉、常温使用等优点被广泛应用。痕量放射性核素测量和能谱分析是核辐射测量的重要方法和手段之一。通过核能谱信息的获取,能够对相关核素进行定性和定量分析,其工作原理是不同核素在衰变过程中,释放出的粒子或射线能量是不同的,探测器输出的电脉冲信号与入射粒子或射线的能量成正比,测量脉冲信号幅度,得到入射粒子或射线的能量。但是,现有的用于闪烁探测器的光电倍增管在发生震动时,易与其接触的晶体碰撞,从而导致光电倍增管破裂,降低核辐射探测仪的使用寿命,影响核辐射的正常探测。
发明内容
本实用新型的主要目的在于解决现有技术中存在的问题,提供一种结构简单,能够有效避免震动等使得光电倍增管与晶体发生碰撞,导致的光电倍增管破裂,以提高核辐射探测仪的使用寿命,且保证核辐射的探测精度的核辐射探测仪。
为解决上述技术问题,本实用新型采用的技术方案是:一种核辐射探测仪,其中所述核辐射探测仪包括线路板支架、卫生管、主管接头、光电倍增管壳体、晶体套、晶体和晶体压盖,所述线路板支架的上端通过螺栓共轴线紧固于所述主管接头的下端面上,所述卫生管的下端通过管焊接固定接头设置于所述主管接头的上端,且该卫生管的内腔由下至上依次设置所述光电倍增管壳体、所述晶体套、所述晶体和所述晶体压盖,所述光电倍增管壳体的上端通过螺栓紧固于所述晶体套的下端面上,且该光电倍增管壳体的内腔上端设置光电倍增管垫圈,所述晶体套共轴线设置于所述晶体的下端,所述晶体的下端与所述光电倍增管垫圈之间设置一间隙,且该晶体的上端共轴线设置所述晶体压盖。
进一步地,所述间隙设置为小于1mm。
进一步地,所述间隙设置为0.5mm。
进一步地,所述卫生管的顶部共轴线设置卫生管顶盖,所述卫生管顶盖的下端套设管焊接螺纹套,所述管焊接螺纹套的内腔下部分相配合设置弹簧锁母,所述弹簧锁母的下端设置弹簧压盖。
进一步地,所述晶体的外表面还套设探测器支撑,所述探测器支撑的外径设置为小于所述卫生管的内径。
进一步地,所述管焊接固定接头与所述主管接头相接处的外侧套设压环,所述主管接头的上端还共轴线设置主管接头后压盖。
进一步地,所述线路板支架的外侧共轴线套设一过渡套,且该线路板支架上还设置直角板。
进一步地,所述过渡套的下端共轴线卡设接头,所述接头的下端设置下体端盖,且该接头的侧表面上沿其径向方向设置接线口螺栓。
本实用新型具有的优点和积极效果是:
(1)通过晶体接收射线产生光信号,光电倍增管将光信号放大并转换为电脉冲信号,电脉冲信号经过线路板支架上的电路放大和驱动后,由电缆将信号输出进行分析处理,该过程中,在光电倍增管垫圈与间隙的作用下,可避免外界震动使得光电倍增管与晶体发生碰撞,提高核辐射探测仪的使用寿命,且保证核辐射的探测精度。
(2)通过间隙的设置,使得晶体与光电倍增管之间非接触,从而降低震动引发的光电倍增管与晶体下端的碰撞情况,且能保证晶体与光电倍增管之间光信号的良好传输。
(3)通过卫生管顶盖,可实现光电倍增管壳体、晶体套、晶体和晶体压盖之间的密封,有效避免外界因素对核辐射探测过程的影响,而弹簧锁母和弹簧压盖的设置,则进一步避免震动对晶体和光电倍增管整体的影响,同时,弹簧锁母具有优越的防松抗震性能,且耐磨损、抗剪切能力强,另外,其重复使用性能好,经过多次反复紧固和拆卸,仍能保持原有锁紧性能。
(4)通过探测器支撑的设置,提高了晶体在卫生管中的稳固性,有效避免摇晃震动等使得晶体与卫生管内壁发生碰撞。
(5)通过线路板支架和直角板可实现对线路板主体的固定,线路板支架外侧的过渡套,以及过渡套下侧的接头和下体端盖,实现了线路板主体的密封,避免外界环境对线路板主体的影响,保证检测精度的同时,延长探测仪的使用寿命。
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图。
图2是图1的剖视结构示意图。
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