[实用新型]测距仪自动测试装置及测距仪测试系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及测距仪校检技术领域，尤其是涉及一种测距仪自动测试装置及测距仪测试系统。

背景技术

常见的测距仪可以包括激光测距仪与声波测距仪。以激光测距仪为例，利用激光对目标的距离进行准确测定的仪器。激光测距仪在工作时向目标射出一束很细的激光，由光电元件接收目标反射的激光束，计时器测定激光束从发射到接收的时间，计算出从观测者到目标的距离。

测距仪被应用在很多的领域，例如，环境、建筑、军事、房地产等领域，对于不同的领域，对测距仪的精度要求也不相同。使用同一个测距仪，对于同一个目标进行多次测距，出现的结果存在差距，通过对比这些数据，可以反映出该测距仪精确性。

现有的对测距仪的检测方法还是采用人工操作，多次测量的方式。这样就会造成单件测距仪的检验需要的时间较长，工作效率低，而且容易出现漏记，错记的现象。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种测距仪自动测试装置及测距仪测试系统，以缓解了现有的对测距仪的检测过程中，单件测距仪的检验需要的时间较长，工作效率低，而且容易出现漏记，错记的现象的技术问题。

本实用新型提供的测距仪自动测试装置，包括：固定部、靶标和比较模块，所述固定部用于固定待测试测距仪，以使所述待测试测距仪正对所述靶标；

所述比较模块与所述待测试测距仪的控制端电连接，所述比较模块用于获取所述测距仪连续的多次测距的距离数据，并根据多个所述距离数据，评价待测试测距仪的精确性。

进一步的，所述固定部包括横向转动组件，所述横向转动组件用于调整所述待测试测距仪横向测距角度。

进一步的，所述横向转动组件包括沿竖向设置的上盘和下盘，所述上盘的上表面用于放置所述待测试测距仪；

所述上盘的下表面上设置有转轴，所述下盘的上表面设置有与所述转轴对应的插孔，以使所述转轴插入所述插孔后，所述上盘与所述下盘转动连接。

进一步的，所述固定部包括底座，所述下盘侧面对称设置有两个转臂，所述两个转臂的连线过所述下盘的直径；

所述两个转臂分别与所述底座套接，以使所述下盘与所述底座转动连接，用于调节所述待测试测距仪竖向测距角度，且至少一个所述转臂与底座套接位置设置有锁紧机构，锁紧机构锁紧后防止所述下盘与所述底座之间发生相对运动。

进一步的，所述固定部上设置有瞄准镜，且所述瞄准镜与所述待测试测距仪的测距方向平行。

进一步的，所述固定部上设置有标准测距仪，所述标准测距仪的测距方向与所述待测试测距仪的测距方向平行。

进一步的，所述靶标包括多个目标区域，任意两个目标区域的反射率不相同。

进一步的，所述固定部上设置有固定结构，所述固定结构用于防止所述待测试测距仪与所述固定部发生相对运动。

进一步的，所述固定部包括用于夹持所述待测试测距仪相对两侧边的第一夹持部和第二夹持部。

本是实用新型提供的测距仪测试系统，包括上述的测距仪自动测试装置。

本实用新型提供的测距仪自动测试装置，包括：固定部、靶标和比较模块。准备时，先将靶标放置在远离固定部的位置，将待测试的测距仪放置在固定部上，可以使待测试测距仪正对靶标。所述比较模块与所述待测试测距仪的控制端电连接，待测试测距仪对所述待测试测距仪到所述靶标之间的距离进行连续的多次测量后，比较模块获取该连续的多次测距的距离数据。因为比较模块获取的是完整的连续数据，所以根据这组数据更能完整的评价测距仪的精确性，不会出现漏记，错记的情况。

本是实用新型提供的测距仪测试系统，包括上述的测距仪自动测试装置。准备时，先将靶标放置在远离固定部的位置，将待测试的测距仪放置在固定部上，可以使待测试测距仪正对靶标。所述比较模块与所述待测试测距仪的控制端电连接，待测试测距仪对所述待测试测距仪到所述靶标之间的距离进行连续的多次测量后，比较模块获取该连续的多次测距的距离数据。因为比较模块获取的是完整的连续数据，所以根据这组数据更能完整的评价测距仪的精确性，不会出现漏记，错记的情况。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型实施例提供的测距仪自动测试装置的俯视图；