[实用新型]一种铁基非晶磁芯初始晶化温度的测量装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及电子元件领域，尤其涉及一种铁基非晶磁芯初始晶化温度的测量装置。

背景技术

在软磁非晶行业中，为了精确控制初始晶化开始阶段的工艺温度，确认铁基非晶磁芯开始晶化时的温度参数，是工厂提高产品合格率、合理制定磁芯的热处理工艺的重要依据。在有条件的情况下，往往购买成套热分析仪(如DTA或DSC)进行测量，但购置仪器成本很高。

而且，这些仪器测量时，所需要的测量样品通常只有几克重，测出的磁芯开始晶化时的温度参数只与测量样品的材质有关，与实际磁芯大小重量无关。但是在工厂实际操作中发现，对于材质相同但尺寸重量不同的磁芯工件，如果以一定升温速度进行晶化热处理时，其晶化开始发热的温度上升的行为是不同的，其晶化发热过程非常复杂，例如，起始超温温度偏离，超温幅度加大等，上述仪器所测得的磁芯开始晶化时的温度数据只起参考作用，而现场发热经常使磁芯发生过烧，影响产品的性能和质量。

因此，研发更加契合生产实际、更加简易直观和能更有效准确地测定磁芯在热处理工艺过程中的初始晶化温度参数与尺寸等相关的实用测量装置尤为必要。

实用新型内容

本实用新型针对以上现有技术中的缺陷提供了一种铁基非晶磁芯初始晶化温度的测量装置，该测量装置能够有效准确地测出磁芯在热处理工艺过程中初始晶化温度参数与尺寸等的关联关系，且成本极低。

本实用新型是通过以下技术方法实现的：

一种铁基非晶磁芯初始晶化温度的测量装置，包括设有空腔的炉体1、马弗管3、多组电阻丝5和样品盒6，所述马弗管3横穿于所述炉体1的空腔，所述电阻丝5设置于所述马弗管3与所述炉体1之间，所述样品盒6位于所述马弗管3的内部中央，所述样品盒6内靠近样品的位置设置第一热电偶8；所述马弗管3内设置用于控制炉温的第二热电偶9。

进一步的，所述电阻丝5包围马弗管3呈管状分布，所述电阻丝5包围区域形成均温区。

进一步的，所述均温区内的温度误差小于±2℃。

进一步的，所述均温区的升温速度为5℃/min。

进一步的，所述第二热电偶9设置于所述均温区内。

进一步的，还包括程序控制器10，所述程序控制器10设置于所述马弗管3的外部，所述程序控制器10与所述第二热电偶9、所述电阻丝5电连接。

进一步的，所述电阻丝5为单组功率控制。

进一步的，所述第一热电偶8和第二热电偶的外侧均设置有电偶保护管11。

进一步的，所述炉体1的内侧设置保温层4。

进一步的，所述马弗管3内注入有纯氮保护气。

与现有技术相比，本实用新型至少具有以下优点：

本实用新型提供的铁基非晶磁芯初始晶化温度的测量装置，可以更接近现场的热处理条件，能够有效准确地测出磁芯在热处理工艺过程中初始晶化温度参数与尺寸等的关联关系，对工厂制定更合理的热处理工艺程序提供了重要指导作用。且该测量装置成本极低，有利于大规模生产及推广应用。

附图说明

图1为本实用新型提供的铁基非晶磁芯初始晶化温度的测量装置的结构示意图；

图2为本实用新型提供的铁基非晶磁芯初始晶化温度的测量装置纵向剖面示意图；

图3为本实用新型提供的实施例中测定铁基非晶样品时第一热电偶8和第二热电偶9的温度曲线变化图。

附图标记说明：

1-炉体；

3-马弗管；

4-保温层；

5-电阻丝；

6-样品盒；

7-样品；

8-第一热电偶；

9-第二热电偶；

10-程序控制器；

11-电偶保护管。

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本实用新型实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本实用新型的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围，而是仅仅表示本实用新型的选定实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制。