[实用新型]近场测量探头校准系统

权利要求书

1.一种近场测量探头校准系统，其特征在于，包括：控制器、信号源装置、TEM暗室、空气波导、平坦模型、定向平板天线以及液体波导，所述定向平板天线紧贴放置于所述平坦模型的下方；

所述控制器连接所述信号源装置，用以控制所述信号源装置产生电磁波信号，并记录所述电磁波信号的实际功率；

所述信号源装置分别连接所述TEM暗室、空气波导、定向平板天线以及液体波导的射频接口，将所述电磁波信号通过同轴电缆导入所述TEM暗室、空气波导、定向平板天线以及液体波导内；

待校准的近场测量探头顺序插入所述TEM暗室、空气波导、平坦模型以及液体波导内，测量得到所述TEM暗室、空气波导、平坦模型以及液体波导内的实际场强值，所述控制器根据所述TEM暗室、空气波导、平坦模型以及液体波导的标准场数据、所述实际场强值以及所述电磁波信号的实际功率，得到所述待校准的近场测量探头的校准因子。

2.根据权利要求1所述的近场测量探头校准系统，其特征在于，所述信号源装置包括：信号发生器、功率放大器、耦合器；

所述信号发生器连接所述控制器与所述功率放大器；

所述耦合器的输入端连接所述功率放大器，输出端顺序连接功率计、所述TEM暗室、空气波导、定向平板天线以及液体波导，前向端连接监控功率计，后向端连接负载。

3.根据权利要求2所述的近场测量探头校准系统，其特征在于，所述信号发生器与功率放大器之间、耦合器与所述监控功率计之间和/或耦合器与所述功率计之间还分别连接有衰减器。

4.根据权利要求1所述的近场测量探头校准系统，其特征在于，所述待校准的近场测量探头包括：SAR探头、HAC探头。

5.根据权利要求1所述的近场测量探头校准系统，其特征在于，所述信号源装置容置于一机柜内，所述信号源装置与所述控制器、TEM暗室、空气波导、定向平板天线以及液体波导通过线缆连接。

6.根据权利要求1所述的近场测量探头校准系统，其特征在于，还包括一机械臂，所述机械臂连接所述控制器与待校准的近场测量探头，用于调整所述待校准的近场测量探头在所述TEM暗室、空气波导、平坦模型以及液体波导中的测量位置。