[实用新型]一种原子荧光分光光度计专用进样试管架

说明书

技术领域

本实用新型涉及原子荧光分光光度计用设备技术领域，具体为一种原子荧光分光光度计专用进样试管架。

背景技术

原子荧光光谱分析（AFS）是20世纪60年代中期提出并发展起来的光谱分析技术，它是原子吸收和原子发射光谱的综合与发展，是一种优良的痕量分析技术，常用来进行环境中重金属元素含量的检测。但是在利用原子荧光分光光度计检测的过程中，通常要测很多组样品，每一组样品中要加多种化学试剂，容易导致试管架上的试管孔不够用；在加试剂的过程中化学试剂的滴落会造成试验台的腐蚀；并且现有的原子荧光进样用试管架的型号偏大，当检测的样品比较少时会导致试管架的利用率不高。

发明内容

本实用新型的目的在于提供一种原子荧光分光光度计专用进样试管架，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种原子荧光分光光度计专用进样试管架，包括底板，所述底板底端安装有支撑脚垫，所述底板上安装有后侧支架、中间支架和前侧支架，所述中间支架和后侧支架上安装有第一支撑板，所述中间支架和前侧支架上安装有第二支撑板，所述第一支撑板和第二支撑板上设置有试管放置孔，所述底板一侧设置有侧连接板，底板另一侧设置有螺丝孔。

优选的，所述中间支架和后侧支架高度相同，中间支架的高度大于前侧支架的高度。

优选的，所述底板上设置有立柱，立柱位于前侧支架前部。

优选的，所述底板上设置有限位孔，限位孔位于试管放置孔下方。

优选的，所述底板设置为中空式底板，底板上表面设置有通孔，底板一侧设置有出水孔。

优选的，所述底板后侧设置有后部连接板和螺丝孔。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：本实用新型通过设置第一支撑板和第二支撑板，第一支撑板的高度高于第二支撑板，可防止不同长度的试管，通过在底板上设置有通孔，洒落的试剂可通过通孔落入底板内，防止试剂腐蚀试验台，清洗后的试管可倒插在立柱上，试管内部的水可流入底板内部，保证试管的干燥和洁净，可将试管架之间通过侧连接板进行侧面连接，也可将试管架之间通过后部连接板与螺丝孔连接，从而可根据需要选择试管架的个数，提高试管架的利用率，使用较为方便。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图。

图2为本实用新型底板的结构示意图。

图中：1-第一支撑板；2-第二支撑板；3-后侧支架；4-中间支架；5-底板；6-立柱；7-限位孔；8-支撑脚垫；9-出水孔；10-前侧支架；11-侧连接板；12-螺丝孔；13-通孔；14-后部连接板。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-2，本实用新型提供一种技术方案：一种原子荧光分光光度计专用进样试管架，包括底板5，底板5底端安装有支撑脚垫8，底板5上安装有后侧支架3、中间支架4和前侧支架10，中间支架4和后侧支架3上安装有第一支撑板1，中间支架4和前侧支架10上安装有第二支撑板2，第一支撑板1和第二支撑板2上设置有试管放置孔，底板5一侧设置有侧连接板11，底板5另一侧设置有螺丝孔12，中间支架4和后侧支架3高度相同，中间支架4的高度大于前侧支架10的高度，将较长的试管放在第一支撑板1上，将较短的试管放入第二支撑板2上，底板5上设置有立柱6，清洗后的试管可倒插在立柱6上，试管内部的水可流入底板内部，保证试管的干燥和洁净，立柱6位于前侧支架10前部，底板5上设置有限位孔7，限位孔7位于试管放置孔下方，底板5设置为中空式底板，底板5上表面设置有通孔13，底板5一侧设置有出水孔9，通过出水孔9可将底板5内部的液体排出，底板5后侧设置有后部连接板14和螺丝孔12。

工作原理：根据试管长度的不同，选择合适的支撑板，将较长的试管放在第一支撑板1上，将较短的试管放入第二支撑板2上，通过侧连接板11，可将试管架之间通过侧连接板11进行侧面连接，也可将试管架之间通过后部连接板14与螺丝孔12连接，洒落的试剂可通过通孔13落入底板内，防止试剂腐蚀试验台，清洗后的试管可倒插在立柱6上，试管内部的水可流入底板内部，保证试管的干燥和洁净，最后通过出水孔9可将底板5内部的液体排出。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。