[实用新型]一种自检样品可更换且以磁铁紧固的射线光谱仪保护盖有效
申请号: | 201720401741.X | 申请日: | 2017-04-17 |
公开(公告)号: | CN206876602U | 公开(公告)日: | 2018-01-12 |
发明(设计)人: | 李福生 | 申请(专利权)人: | 浙江泰克松德能源科技有限公司 |
主分类号: | G01N23/00 | 分类号: | G01N23/00 |
代理公司: | 杭州求是专利事务所有限公司33200 | 代理人: | 邱启旺 |
地址: | 321404 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 自检 样品 更换 磁铁 紧固 射线 光谱仪 保护 | ||
技术领域
本实用新型属于检测领域,尤其涉及一种自检样品可更换且以磁铁紧固的射线光谱仪保护盖。
背景技术
检测领域(包括合金检测、土壤及水体污染检测、食品及药品检测等)所使用的仪器如X射线光谱仪,仪器保护盖是其必备的装置之一。仪器保护盖的基本作用是保护仪器内部的精密装置免受损害,延长仪器使用寿命,另外也可以起到保护使用者免受射线辐射。关于仪器保护盖与仪器本身的紧固方式,市场上有卡扣紧固、弹性紧固、旋转紧固等方法。其中卡扣紧固易磨损,会使得机构不牢且会因掉漆、划痕等影响美观;弹性紧固和旋转紧固也存在类似问题,仪器长时间使用后会偶尔出现仪器保护盖无法盖紧或盖紧后难以拆卸等问题,影响仪器的正常使用。
出于数据分析的需要,一台检测仪器在研发阶段、出厂前甚至用户使用中经常需要仪器自检,来修正误差,从而保证较高的数据分析精度。所谓自检指仪器测试结果产生偏离或误差超出相关规定,不能正常工作时,使用该仪器对特定样品(元素含量已知)进行检测,通过内部的参数自动修正,从而对仪器进行校准的操作。对于不同的检测对象,往往需要不同的“特定样品”(以下称作“自检样品”)才能达到理想的自检效果。
在这方面,市场上的其他同类仪器有的不使用这种自检方法;亦或自检样品是单独存放的(未集成到仪器保护盖上),这样容易遗失、且自检时需要手拿自检样品或将其置于某处,不甚方便。
实用新型内容
针对上述不足,本实用新型提供一种自检样品可更换且以磁铁紧固的射线光谱仪保护盖。
为了达到上述目的,本实用新型所采用的技术方案如下:一种自检样品可更换且以磁铁紧固的射线光谱仪保护盖,包括盖体、磁铁块、自检样品架、自检样品;所述盖体的外部具有凹槽,所述磁铁块设置在凹槽内;所述盖体内部具有一卡槽结构,所述自检样品架卡在卡槽结构上,所述自检样品嵌在自检样品架上。
进一步的,所述卡槽结构为在圆环凸缘上开有一对L形缺口,所述一对L形缺口关于圆环凸缘的中心呈度对称分布;所述圆环凸缘固定在盖体内部。
进一步的,所述自检样品架的主体为一圆形结构,其中间开有凹陷口,外壁具有一对卡扣,一对卡扣与一对L形缺口相卡合;所述自检样品嵌有凹陷口上。
进一步的,所述磁铁块通过塞子固定在凹槽内。
进一步的,还包括外套,所述外套套在盖体的外侧,同时包裹磁铁块和塞子。
进一步的,所述外套的材料为硅胶。
本实用新型的有益效果为:
1)定标样品置于仪器保护盖内部前端,定标样品不易丢失,且方便定标操作;
2)定标样品可更换,可根据不同的检测对象更换定标样品,达到最佳的定标效果;
3)使用磁铁紧固,长时间使用后仍然有极佳的紧固效果,再者,不会出现划痕、磨损等现象。
附图说明
下面结合附图和实施例对本实用新型做进一步的说明:
图1为本实用新型的整体轴测图;
图2为本实用新型的盖体外侧主视图;
图3为本实用新型的盖体外侧轴测图;
图4为本实用新型的盖体内侧轴测图;
图5为本实用新型的磁铁块和塞子剖视图;
图6为本实用新型的盖体上套上硅胶外套的轴测图;
图7为本实用新型的自检样品架轴侧示意图;
图8为本实用新型的自检样品架和自检样品装配示意图;
图9为本实用新型的自检样品架及自检样品安装至盖体内侧后的示意图。
图中,1 为盖体,101 为凹槽,102 为卡槽结构,103 为L形缺口;2 为磁铁块;3 为塞子;4 为外套;5 为自检样品架,501 为圆饼形凹陷,502 为卡扣;6 为自检样品。
具体实施方式
下面结合实施例和附图对本实用新型做进一步的说明。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浙江泰克松德能源科技有限公司,未经浙江泰克松德能源科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201720401741.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种AOI检测专用全彩光源
- 下一篇:一种X射线探伤仪