[实用新型]PLC主板测试治具

说明书

技术领域：

本实用新型涉及一种PLC主板测试治具。

背景技术：

PLC主板上大都有 6-15个扩展插槽，供 PC 机外围设备的控制卡（适配器）插接。通过更换这些插卡，可以对微机的相应子系统进行局部升级，使厂家和用户在配置机型方面有更大的灵活性。但是，主板的质量测试由于需要涉及多个扩展插槽，因此需要同时对多个扩展插槽的情况进行测试。目前采用的手工对接的测试方式，其测试过程完全由人力把控，而且极易出现接反或漏测，严重时还会出现烧件。

发明内容：

本实用新型所要解决的技术问题是：提供一种用于实现自动化检测PLC主板的测试治具。

为了解决上述技术问题，本实用新型是通过以下技术方案实现的：一种PLC主板测试治具，包括底座、支架、压合机构、测试载板和电源装置，所述支架固定安装在底座后端，所述压合机构下端的导杆上固定设置有压板，所述测试载板固定设置在底座顶部，所述测试载板上设置有探针、MUC微控制单元、IC芯片、电源转换模块和指示灯，所述探针设置在测试载板顶部，所述指示灯设置在测试载板外部，所述电源转换模块的输入端通过电路连接至电源装置，所述电源转换模块的输出端通过电路连接至MCU微控制单元电源接口，所述MCU微控制单元的输入端通过通讯线路连接至探针的输出接口，所述MCU微控制单元的输出端通过通讯线路连接至IC芯片的输入接口，所述IC芯片的输出接口通过通讯线路连接至探针的输入接口，所述MCU微控制单元的输出端还通过通讯线路连接至指示灯。

作为优选，所述MCU微控制单元与IC芯片之间通讯线路上设置有第一光耦，所述MCU微控制单元与探针输出接口之间的通讯线路上设置有第二光耦。

作为优选，所述电源装置的电压采用24v直流电压。

与现有技术相比，本实用新型的有益之处是：待测PLC板通过压合治具固定在测试载板上，MCU微控制单元发出模拟测试信号经IC芯片传递至探针的信号输入接口进行测试，同时探针的信号输出接口将测试信号反馈至MCU微控制单元，MCU微控制单元再经过分析处理后，将信号发送至指示灯进行结果显示，具有操作简单和测试准确的优点。

附图说明：

下面结合附图对本实用新型进一步说明。

图1是测试治具的结构示意图。

图2是测试治具的结构原理图。

具体实施方式：

下面结合附图及具体实施方式对本实用新型进行详细描述：

如图1和图2所示的一种PLC主板测试治具，包括底座1、支架2、压合机构3、测试载板4和电源装置5，所述支架2固定安装在底座1后端，所述压合机构3下端的导杆上固定设置有压板6，所述测试载板4固定设置在底座1顶部，所述测试载板4上设置有探针41、MUC微控制单元42、IC芯片43、电源转换模块44和指示灯45，所述探针41设置在测试载板4顶部，PLC待测板9的测试部位通过压合机构3以及压板6的压紧作用与测试载板4的探针41相接触，所述指示灯45设置在测试载板4外部，所述电源转换模块44的输入端通过电路连接至电源装置5，所述电源转换模块44的输出端通过电路连接至MCU微控制单元42电源接口，所述MCU微控制单元42的输入端通过通讯线路连接至探针41的输出接口，所述MCU微控制单元42的输出端通过通讯线路连接至IC芯片43的输入接口，所述IC芯片43的输出接口通过通讯线路连接至探针41的输入接口，所述MCU微控制单元42的输出端还通过通讯线路连接至指示灯45。

所述MCU微控制单元42与IC芯片43之间通讯线路上设置有第一光耦7，所述MCU微控制单元42与探针41输出接口之间的通讯线路上设置有第二光耦8，第一光耦7和第二光耦8均起到信号单向传输隔离的作用。

本测试治具仅用于PLC板检测，因此为了保证测试人员的人身安全，所述电源装置5的电压采用24v直流电压。

需要强调的是：以上仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非对本实用新型作任何形式上的限制，凡是依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本实用新型技术方案的范围内。