[实用新型]一种水体体散射函数及衰减系数同步测量仪有效
申请号: | 201720406883.5 | 申请日: | 2017-04-18 |
公开(公告)号: | CN206862888U | 公开(公告)日: | 2018-01-09 |
发明(设计)人: | 李彩;许占堂;苟马龙;徐聪辉;杨跃忠;曹文熙;周雯;范乐诗 | 申请(专利权)人: | 中国科学院南海海洋研究所 |
主分类号: | G01N21/53 | 分类号: | G01N21/53;G01J1/42 |
代理公司: | 广州粤高专利商标代理有限公司44102 | 代理人: | 陈卫 |
地址: | 510301 *** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 水体 散射 函数 衰减系数 同步 测量仪 | ||
1.一种水体体散射函数及衰减系数同步测量仪,其特征在于,包括第一光源(1)、第二光源(2)、N个散射通量探头组(3)、透射光探头(4)、深度探头(5)、数据采样及供电控制系统(6)、用于固定第一光源(1)和散射通量探头组(3)的第一固定支架(7)、用于固定第二光源(2)和透射光探头(4)的第二固定支架(8)以及用于支撑数据采样及供电控制系统(6)的支撑架(9),所述深度探头(5)、第二固定支架(8)和支撑架(9)均设在所述第一固定支架(7)上,所述第二光源(2)和透射光探头(4)相对设置在所述第二固定支架(8)两端,所述第一固定支架(7)呈圆环状,所述第一光源(1)和N个散射通量探头组(3)均匀分布在所述第一固定支架(7)的周向上,所述第一光源(1)、第二光源(2)、散射通量探头组(3)、透射光探头(4)和深度探头(5)均与所述数据采样及供电控制系统(6)电连接。
2.根据权利要求1所述的一种水体体散射函数及衰减系数同步测量仪,其特征在于,所述第一固定支架(7)包括内圆环(71)、外圆环(72)以及将内圆环(71)、外圆环(72)上端面连接起来的第三圆环(73),所述内圆环(71)、外圆环(72)以及第三圆环(73)共圆心,所述第三圆环(73)的内径与所述内圆环(71)的内径相同,所述第三圆环(73)的外径与所述外圆环(72)的外径相同。
3.根据权利要求2所述的一种水体体散射函数及衰减系数同步测量仪,其特征在于,所述内圆环(71)和外圆环(72)的周向上均匀设置了N+1组安装孔,每组安装孔包括设在内圆环(71)周向上的第一通孔和设在外圆环(72)周向上且和第一通孔相对应的第二通孔,所述第一光源(1)设在其中一组安装孔中,第一光源(1)的出光端设在所述第一通孔内,所述散射通量探头组(3)设在余下的N组安装孔中,散射通量探头组(3)的入光端设在所述第一通孔内,所述散射通量探头组(3)的视场中心与所述第一光源(1)的中心轴线共面,所述第一光源(1)以及散射通量探头组(3)的长度略大于所述内圆环(71)与所述外圆环(72)之间的距离。
4.根据权利要求2所述的一种水体体散射函数及衰减系数同步测量仪,其特征在于,所述第二固定支架(8)为一槽体,所述槽体的长度与所述第三圆环(73)的外径相同,所述第二光源(2)和透射光探头(4)相对设置在所述槽体两端,第二光源(2)的出光端与透射光探头(4)的入光端之间的距离跟所述第三圆环(73)的内径相同,所述槽体为U型槽体,所述槽体的槽壁为百叶状。
5.根据权利要求1所述的一种水体体散射函数及衰减系数同步测量仪,其特征在于,所述数据采样及供电控制系统(6)包括主体外壳,所述主体外壳内设有可充电电池组、数据采集及处理系统和无线通讯设备,所述可充电电池组和无线通讯设备均与所述数据采集及处理系统电连接,所述主体外壳的外壁上设有N+4个第一水密插头(61),所述N+4个第一水密插头均与所述数据采集及处理系统连接,所述第一光源(1)、第二光源(2)、散射通量探头组(3)、透射光探头(4)和深度探头(5)上设有与所述第一水密插头(61)一一对应的第二水密插头(62),所述第一水密插头(61)与对应的第二水密插头(62)之间设有水密电缆(63),所述主体外壳上设有起吊环(10)。
6.根据权利要求5所述的一种水体体散射函数及衰减系数同步测量仪,其特征在于,所述主体外壳的顶部设有自动控制供断电开关,所述自动控制供断电开关包括第一干簧管(11)、第二干簧管(12)以及与所述第一干簧管(11)、第二干簧管(12)配合的磁铁,第一干簧管(11)用于控制上电,第二干簧管(12)控制断电。
7.根据权利要求1所述的一种水体体散射函数及衰减系数同步测量仪,其特征在于,所述散射通量探头组(3)和透射光探头(4)结构相同,均包括水密圆柱壳体I(13)和设在所述水密圆柱壳体I(13)内的从入光端起依次排列的光学玻璃(14)、光学准直系统(15)、光电探测器(16)和电子系统(17),所述透射光探头(4)中光电探测器(16)的表面设有一层漫反射薄膜。
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