[实用新型]一种安全芯片内的电压传感器检测装置有效
申请号: | 201720409520.7 | 申请日: | 2017-04-18 |
公开(公告)号: | CN206818857U | 公开(公告)日: | 2017-12-29 |
发明(设计)人: | 胡飞将 | 申请(专利权)人: | 北京萤芯科技有限公司 |
主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00 |
代理公司: | 北京金律言科知识产权代理事务所(普通合伙)11461 | 代理人: | 兰淑铎,黄海艳 |
地址: | 100080 北京市海淀区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 安全 芯片 电压 传感器 检测 装置 | ||
1.一种安全芯片内的电压传感器检测装置,其特征在于,包括输入信号整形电路(10)、电源电压采样电路(30)、高压比较电路(50)、低压比较电路(60)、报警判别电路(70)和自检测激励产生电路(80);
所述报警判别电路(70)分别与所述高压比较电路(50)和低压比较电路(60)连接;所述自检测激励产生电路(80)与所述输入信号整形电路(10)连接;所述电源电压采样电路(30)分别与所述高压比较电路(50)和低压比较电路(60)连接;
所述自检测激励产生电路(80)生成并发送自检测数字激励信号和自检测模式控制信号至输入信号整形电路(10),所述输入信号整形电路(10)根据所述自检测模式控制信号调整所述自检测数字激励信号;
所述电源电压采样电路(30)接收所述调整后的自检测数字激励信号,根据所述调整后的自检测数字激励信号对电源电压进行采样并分压,将采样并分压得到的检测电压发送至所述高压比较电路(50)和所述低压比较电路(60);
所述高压比较电路(50)接收基准电压,将所述检测电压和所述基准电压进行比较,输出高压检测输出信号;所述低压比较电路(60)接收所述基准电压,将所述检测电压和基准电压进行比较,输出低压检测输出信号;
所述报警判别电路(70)接收所述高压检测输出信号和所述低压检测输出信号,判断所述高压检测输出信号和所述低压检测输出信号是否符合预设条件,若不符合所述预设条件,则生成相应的报警信号。
2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述报警判别电路(70)根据所述自检测模式控制信号,采用一个高频时钟对所述高压检测输出信号和所述低压检测输出信号进行采样,判断采样获得的所述高压检测输出信号和所述低压检测输出信号是否符合预设条件,若不符合所述预设条件,则生成相应的报警信号。
3.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述自检测模式控制信号包括第一设定比特信号、第二设定比特信号、第三设定比特信号和第四设定比特信号。
4.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,当所述自检测模式控制信号为所述第一设定比特信号时,所述输入信号整形电路(10)调整所述自检测数字激励信号的波形脉冲占空比。
5.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,当所述自检测模式控制信号为所述第二设定比特信号时,所述输入信号整形电路(10)将所述自检测数字激励信号进行分频或者倍频。
6.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,当所述自检测模式控制信号为所述第三设定比特信号时,所述输入信号整形电路(10)调整所述自检测数字激励信号为交替变化的伪随机序列。
7.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,当所述自检测模式控制信号为所述第四设定比特信号时,所述输入信号整形电路(10)执行以下操作的任意组合:调整所述自检测数字激励信号的波形脉冲占空比、将所述自检测数字激励信号进行分频或者倍频、调整所述自检测数字激励信号为交替变化的伪随机序列。
8.根据权利要求1-7任一所述的装置,其特征在于,所述自检测模式控制信号为预设信号集合中的随机信号。
9.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:自检测控制电路(20)和基准电压生成电路(40);
所述输入信号整形电路(10)与所述自检测控制电路(20)连接,所述自检测控制电路(20)与所述电源电压采样电路(30)连接,所述基准电压生成电路(40)分别与所述高压比较电路(50)和低压比较电路(60)连接。
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