[实用新型]一种等离子体氧化抛光系统有效
申请号: | 201720417642.0 | 申请日: | 2017-04-20 |
公开(公告)号: | CN206967172U | 公开(公告)日: | 2018-02-06 |
发明(设计)人: | 沈新民;涂群章;何晓晖;李治中;唐建;张晓南;王新晴;殷勤;王东;白攀峰 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军理工大学 |
主分类号: | B24B1/00 | 分类号: | B24B1/00;B24B27/033;B24B41/00;B24B55/00 |
代理公司: | 苏州翔远专利代理事务所(普通合伙)32251 | 代理人: | 王华 |
地址: | 210000 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 等离子体 氧化 抛光 系统 | ||
1.一种等离子体氧化抛光系统,其特征在于,所述系统包括氦气罐(1),所述氦气罐(1)通过气管连接水瓶(3),所述接水瓶(3)通过气管连通抛光工作室,所述抛光工作室包括水平设置的旋转台(7),所述旋转台(7)上设置有抛光块(6),所述抛光块(6)的上表面上放置样品(8),所述样品(8)上方固定连接旋转电机(5),所述旋转台(7)的上表面还连接电极(9),所述旋转台(7)和电极(9)分别通过导线连接手动匹配器(11),所述手动匹配器(11)连接射频电源(12)。
2.根据权利要求1所述的等离子体氧化抛光系统,其特征在于,所述氦气罐(1)和水瓶(3)之间设有流量计(2)。
3.根据权利要求1所述的等离子体氧化抛光系统,其特征在于,所述接水瓶(3)与抛光工作室之间安装有露点仪(4)。
4.根据权利要求1所述的等离子体氧化抛光系统,其特征在于,所述旋转台(7)周围安装有玻璃罩(10)。
5.根据权利要求1所述的等离子体氧化抛光系统,其特征在于,所述抛光块(6)与电极(9)设置在旋转台(7)上相互对称的位置上。
6.根据权利要求1所述的等离子体氧化抛光系统,其特征在于,所述样品(8)为RB-SiC。
7.根据权利要求1所述的等离子体氧化抛光系统,其特征在于,所述旋转台(7)为二维电动平台。
8.根据权利要求1所述的等离子体氧化抛光系统,其特征在于,所述抛光块(6)为CeO2。
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