[实用新型]一种OTDR器件

说明书

技术领域

本实用新型涉及OTDR光纤测试领域，具体涉及一种基于环形器的OTDR器件。

背景技术

OTDR(Optical Time Domain Reflectometer)技术用于对光纤性能进行监测，以判断光纤熔接点，连接器或断裂等事件。在光纤输入端注入光脉冲信号，然后在输入端对光纤反射光信号进行高速采集，得到一系列采样点的数据，每个数据都代表光纤中某点的反射光功率值。将与输入端的距离作为横坐标，每个采样点的反射光功率值作为纵坐标，得到光纤衰减和长度的关系，从而反映出被测试光纤的性能。

目前OTDR器件的光路部分由各个分离的器件通过光纤连接而成，由于分立器件，还需要绕纤等操作，需要器件空间大，造成空间紧张，不利于小型化器件趋势的进展。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题在于，提供一种OTDR器件，旨在解决现有OTDR通过光纤连接分离的光学器件，需要空间大，不利于小型化的问题。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：提供一种OTDR器件，其包括光纤输入端、光纤输出端、检测光发射组件、检测光接收组件、环形器以及WDM膜片，由所述光纤输入端入射的信号光经WDM膜片透射至光纤输出端；所述检测光发射组件发射的检测光经环形器至WDM膜片，由WDM膜片反射后与信号光形成合束光；由光纤输出端反射回的检测光，依次经过WDM膜片、环形器至检测光接收组件。

进一步地，所述环形器包括第一偏振片、法拉第片、半波片以及第二偏振片；所述检测光发射组件发射的检测光依次经第一偏振片、法拉第片、半波片以及第二偏振片后至所述WDM膜片。

进一步地，所述法拉第片可将偏振光顺时针旋转45°。

进一步地，所述半波片的晶轴与水平方向的夹角为22.5°。

与现有技术相比，本实用新型的一种OTDR器件，通过环形器和WDM膜片将检测光合束到信号光中，反射回的检测光依次经过WDM膜片、环形器射出被检测光接收组件接收，进而实现光纤的诊断。其中，光在环形器中是通过自由空间进行传播的，用环形器代替分离的光学器件，避免使用光纤连接，可大大减小OTDR器件的体积，有利于OTDR器件的小型化。

附图说明

下面将结合附图及实施例对本实用新型作进一步说明，附图中：

图1是本实用新型提供的OTDR器件的结构示意图；

图2是为检测光依次经过第一偏振片、法拉第片、半波片以及第二偏振片的偏振态图；

图3是检测光依次经过第二偏振片、半波片、法拉第片、第一偏振片的偏振态图。

具体实施方式

现结合附图，对本实用新型的较佳实施例作详细说明。

如图1所示，本实用新型提供一较佳实施例的一种OTDR器件，其包括光纤输入端10、光纤输出端20、检测光发射组件30、检测光接收组件40、环形器50以及WDM膜片60。由光纤输入端10入射的信号光经WDM膜片60透射至光纤输出端20，检测光发射组件30发射的检测光经过环形器50至WDM膜片，由WDM膜片60反射后与信号光形成合束光，由光纤射出端20反射回的检测光依次经过WDM膜片60、环形器50至检测光接收组件40。检测光接收组件40将接收到的检测光传输给处理器进行分析，实现光纤的诊断。其中，光在环形器50中是通过自由空间进行传播的，用环形器50代替分离的光学器件，避免使用光纤连接，可大大减小OTDR器件的体积，有利于OTDR器件的小型化。

具体地，环形器50依次包括第一偏振片51、法拉第片52、半波片53以及第二偏振片54。由于检测光发射组件30发出的检测光不是偏振光，因此需要将检测光依次经第一偏振片51、法拉第片52、半波片53以及第二偏振片54后，才能经过WDM膜片60反射与信号光合束。具体请参考图2，图中为检测光依次经过第一偏振片51、法拉第片52、半波片53以及第二偏振片54的偏振态。当检测光反射回来时，检测光经过WDM膜片60反射后，依次经过第二偏振片54、半波片53、法拉第片52、第一偏振片51射出后被检测光接收组件40接收，进而实现光纤的诊断。如图3所示，图中为检测光依次经过第二偏振片54、半波片53、法拉第片52、第一偏振片51的偏振态。其中，第一偏振片51可将激光变成两个偏振光，法拉第片52可将偏振光顺时针旋转45°，半波片53的晶轴与水平方向的夹角为22.5°，偏振光经过半波片53时相对于该晶轴对称，第二偏振片54可将两个偏振光合成一个偏振。

应当理解的是，以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制，对本领域技术人员来说，可以对上述实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而所有这些修改和替换，都应属于本实用新型所附权利要求的保护范围。