[实用新型]一种带自检功能的集成电路测试板有效
申请号: | 201720425435.X | 申请日: | 2017-04-21 |
公开(公告)号: | CN206788314U | 公开(公告)日: | 2017-12-22 |
发明(设计)人: | 周学志;谢清冬 | 申请(专利权)人: | 信丰明新电子科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 341600 江西*** | 国省代码: | 江西;36 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 自检 功能 集成电路 测试 | ||
技术领域
本实用新型属于集成电路芯片测试技术领域,特别是一种带自检功能的集成电路测试板。
背景技术
随着国内政策的不断扶持,越来越多企业投入对集成电路芯片的研究力度,使得国内集成电路芯片的供应逐渐摆脱对进口的依赖。例如当前在很多智能手机上得到大量应用的触摸屏控制芯片便为国内企业完成研发设计的。而在一个芯片由设计到最终成熟产品完成的过程中,为保证芯片的质量和性能,集成电路芯片的研发企业及生产厂家则需要对大量的芯片进行相关测试。当前,多采用集成电路测试板来完成芯片的测试,而现有技术中,一旦集成电路测试板出现故障,难以对芯片进行正常测试,并且没有及时被发现,大量芯片的测试结果便可能会不准确,从而导致批量性不良品的出现。
实用新型内容
本实用新型的目的在于避免现有技术中的不足之处而提供一种带自检功能的集成电路测试板,以及时发现集成电路测试板对芯片的测试是否正常,避免批量性不良品的出现。具体技术方案如下:
提供一种带自检功能的集成电路测试板,包括:微处理器和测试板;其中,所述测试板包括控制芯片、预设数量个继电器驱动电路以及第一继电器;其中,所述微处理器通过控制总线分别与所述控制芯片和目标芯片通信;所述控制芯片用以控制所述第一继电器驱动电路来选通不同测试通路并发送电平信号至所述目标芯片。
可选地,所述继电器驱动电路包括:主控制电路和调节电路;其中所述主控制电路输入端连接所述控制芯片;所述调节电路输入端连接所述主控制电路的输出端;所述调节电路的输出端连接所述继电器的输入端。
可选地,所述主控制电路包括:电阻(R1)的一端和MOS管(Q1)的栅极相连,所述电阻(R1)的另一端和所述MOS管(Q1)的源极均接地,所述MOS 管(Q1)的漏极作为输出端。
可选地,所述调节电路包括:三极管(Q2)的发射极和二极管(D1)的阳极均接12伏电压,所述三极管(Q2)的基极与电阻(R2)的一端相连,所述三极管(Q2)的集电极与电阻(R3)的一端相连,所述电阻(R3)的另一端接地,所述电阻(R2)的另一端与储能电容(EC1)的负极相连,所述二极管 (D1)的阴极和所述储能电容(EC1)的正极相连。
可选地,还包括:报警电路,所述报警电路包括第二继电器和故障指示灯,所述第二继电器与所述微处理器连接。
可选地,还包括:手动自检测试开关,所述手动自检测试开关与所述微处理器相连接。
本实用新型的有益效果:应用本实用新型,可以由用户在微处理器内编写程序,设定自检启动条件,实时、周期性地或者在满足一定条件后,停止集成电路测试板对芯片的测试工作,进入自检流程:首先由微处理器向控制芯片发送相关指令,控制芯片在接收到该指令后通过IO控制测试板上的每一个继电器驱动电路,从而控制继电器,达到选通不同测试通路的目的,然后向选通的测试通路发送高电平信号,同时微处理器通过控制芯片向目标芯片,即被测芯片发送进行对应通路电平检测的指令,若对应通路检测到了高电平,则表明被选通的测试通路正常;若检测不到高电平,则由目标芯片向微处理器反馈失效信号,微处理器接到该信号后则停止自检,通知技术员进行确认处理。可以看出,本实用新型中集成电路芯片测试板的自检功能,能够及时发现该测试板对芯片的测试是否正常,从而避免产生批量性的不良品。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型提供的带自检功能的集成电路测试板的一种结构示意图;
图2为主控制电路;
图3为调节电路;
图4本实用新型提供的一种带自检功能的集成电路测试板的另一种结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
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