[实用新型]一种低压用电现场批量检查仪

权利要求书

1.一种低压用电现场批量检查仪，其特征在于，包括电流测量电路和电压测量电路；所述电流测量电路中信号增益SO同时接芯片IC1的G0端口、G1端口及G2端口，芯片IC1的V+端口接+5V电源，同时IC1的V+端口经电容C1接地，芯片IC1的V-端口接-5V，同时芯片IC1的V-端口经电容C2接地，芯片IC1的IN端口接输入信号端SI，芯片IC1的GND端口接地，芯片IC1的OUT端口经电容C3接地芯片IC2的VIN端口，芯片IC2的R1端口经电阻R1接地，芯片IC2的R1端口经电阻R2接滑动变阻器RW，滑动变阻器RW接-12V，同时滑动变阻器RW经电C5接地，滑动变阻器RW同时接芯片IC2的+VS端口和Cav端口，芯片IC2的+VS接+12V，芯片IC2的-VS端口接-12V，芯片IC2的COM端口接地，芯片IC2的Cav经电容C4接地，芯片IC2的Lout端口和Bin端口同时经电容C6接地，芯片IC2的Bout端口分别经电容C7和电容C8接地，同时芯片IC2的Bout端口接电感L，电感L分别经电容C9和电容C10接地，电感L接信号输出信号端；

所述电压测量电路中220V电源经保险丝FU接变压器T，变压器输出端接整流桥U，整流桥输出端接电容C1，同时整流桥输出端经电阻R1接滑动变阻器RP1，滑动变阻器接整流桥输出端，滑动变阻器RP1的触头端经稳压二极管VS1接晶体管VT1的基极，整流桥输出端经电阻R2接晶体管VT1的集电极，同时电阻R2接晶体管VT2的基极，晶体管VT1的发射极接整流桥输出端，整流桥U输出端经电阻R3接晶体管VT2的集电极，晶体管VT2的发射极接整流桥U输出端，电阻R3的经二极管VD1接芯片IC的S端口，整流桥U输出端经电阻R4接滑动变阻器RP2，滑动变阻器RP2触头端经稳压二极管VS2接晶体管VT3的基极，整流桥U输出端经电阻R8接晶体管VT3的集电极，晶体管VT3的发射极接整流桥U输出端，电阻R8经二极管VD2接芯片IC的CP端口，整流桥U输出端接芯片IC的D端口，整流桥U输出端经电容C2接芯片IC的R端口，芯片IC的Q2端口经电阻R6接发光二极管LED1，发光二极管LED1 接整流桥U输出端，芯片IC的Q1端口经电阻R7接发光二极管LED2，发光二极管LED2接整流桥U输出端，芯片IC的R端口经电阻R5接整流桥U输出端。

2.根据权利要求1所述的一种低压用电现场批量检查仪，其特征在于，所述芯片IC1采用LTC69102型数字控制可编程增益放大器，芯片IC2采用AD536真均方根直流转换器。

3.根据权利要求1所述的一种低压用电现场批量检查仪，其特征在于，所述芯片IC采用CD4013型双D触发器。