[实用新型]一种通用型电性开短路测试治具

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种通用型电性开短路测试治具。

背景技术

针对封装之产品做电性测试，其检测治具包含测试座和测试板，传统O/S 开短路测试治具的大小设计是根据产品的尺寸和焊球的矩阵、间距的大小去设计的。只有产品的尺寸、焊球的矩阵和还有焊球的间距必须一致时，检测治具才能共用。只要其中一项条件不满足，便无法通用，就需要改机更换开短路测试板与测试座，既耗时，又浪费成本。

现有的球格阵列封装之通用测试装置（如图1所示），其主要包含一待测物载板410、一效能板420以及至少一可抽换转接板430，可抽换转接板430系电性连接该待测物载板与该效能板。根据不同种类的球格阵列封装件，安置不同的可抽换转接板进行测试，以此扩大测试装置的应用范围。但其缺点是需要通过加装信号转接板才能实现测试板公用，测试不同的产品需要更换不同的转接板。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是针对上述现有技术提供一种通用型电性开短路测试治具，实现测试板和测试座的全部共用，且无需设置多个可抽换转接板，进一步提高开短路电性测试治具的通用性能和利用率，降低开短路电性测试治具的设计成本。

本实用新型解决上述问题所采用的技术方案为：一种通用型电性开短路测试治具，它包括测试座和测试板，所述测试座位于测试板上方，所述测试座正面设置有测试探针矩阵，所述测试探针矩阵是由多个测试探针纵横间隔一定的距离排布而成，所述测试探针矩阵尺寸略小于测试座尺寸，所述测试探针矩阵的测试探针贯穿测试座，所述测试板上设置有与测试探针矩阵大小位置相对应的测试点位矩阵，所述测试点位矩阵是由多个测试点位纵横间隔一定的距离排布而成，所述测试探针矩阵与测试点位矩阵电性相通，所述测试点位矩阵采用从中心一圈一圈向外绕的方式布置测试布线，所述测试点位矩阵外围设置有多个效能板，所述测试点位矩阵通过测试布线电性连接至效能板。

所述测试座底部四周设置有多个定位管脚，所述测试板上设置有多个与定位管脚对应的定位孔，所述定位管脚插入定位孔进行固定。

所述测试探针矩阵的纵向间隔与所述测试点位矩阵的纵向间隔一致。

所述测试探针矩阵的横向间隔与所述测试点位矩阵的横向间隔一致；

与现有技术相比，本实用新型的优点在于：

1、本实用新型可以实现焊球间距相同的产品做开短路测试时，测试板和测试座都可以通用，无需更换，也无需加装任何测试板连接线；

2、本实用新型在产品焊球间距与开短路电性测试探针间距一致的情况下，可以满足不同尺寸产品的开短路测试，提高开短路电性测试治具的利用率，并且可以减少治具设计成本及产线修机改机效率。

附图说明

图1为现有的球格阵列封装之通用测试装置的结构示意图。

图2为本实用新型一种通用型电性开短路测试治具的结构示意图。

图3为本实用新型一种通用型电性开短路测试治具的结构剖视图。

其中：

测试座1

测试板2

测试探针矩阵3

测试点位矩阵4

测试布线5

效能板6

定位管脚7

定位孔8。

具体实施方式

以下结合附图实施例对本实用新型作进一步详细描述。

如图2、图3所示，本实施例中的一种通用型电性开短路测试治具，它包括测试座1和测试板2，所述测试座1位于测试板2上方，所述测试座1正面设置有测试探针矩阵3，所述测试探针矩阵3是由多个测试探针纵横间隔一定的距离排布而成，所述测试探针矩阵3尺寸略小于测试座1尺寸，所述测试探针矩阵3的测试探针贯穿测试座1，所述测试板2上设置有与测试探针矩阵3大小位置相对应的测试点位矩阵4，所述测试点位矩阵4是由多个测试点位纵横间隔一定的距离排布而成，所述测试探针矩阵3与测试点位矩阵4电性相通，所述测试点位矩阵4采用从中心一圈一圈向外绕的方式布置测试布线5，所述测试点位矩阵4外围设置有多个效能板6，所述测试点位矩阵4通过测试布线5电性连接至效能板6，所述效能板6用来使O/S测试机与待测元件电性连接；

所述测试座1底部四周设置有多个定位管脚7，所述测试板2上设置有多个与定位管脚7对应的定位孔8，所述定位管脚7插入定位孔8进行固定；

所述测试探针矩阵3的纵向间隔与所述测试点位矩阵4的纵向间隔一致；

所述测试探针矩阵3的横向间隔与所述测试点位矩阵4的横向间隔一致；