[实用新型]一种测试一维磁性颗粒链冲击力学特性的试验装置

权利要求书

1.一种测试一维磁性颗粒链冲击力学特性的试验装置，主要由光学平板、电磁铁承载台、传感器承载台、T型台、摆锤、摆锤支架、吸盘电磁铁固定盘、上夹紧块、支撑轴、电磁铁、压力传感器、轴承、摆动杆、肋板、吸盘电磁铁、磁性颗粒组成，其特征在于：所述光学平板水平放置；摆锤支架设置在光学平板的最右侧，摆锤支架与光学平板固定连接；肋板与摆锤支架固定连接，肋板与光学平板固定连接；T型台与摆锤支架紧靠，且T型台的右端面与摆锤支架的中线平齐，T型台与光学平板固定连接；传感器承载台设置在T型台的后侧，传感器承载台与光学平板固定连接；压力传感器与传感器承载台固定连接；电磁铁承载台设置在传感器承载台的后侧，电磁铁承载台与光学平板固定连接；电磁铁与电磁铁承载台固定连接；吸盘电磁铁固定盘与摆锤支架固定连接；吸盘电磁铁与吸盘电磁铁固定盘固定连接；轴承通过过盈配合安装在摆锤支架的轴承座孔内；支撑轴与轴承通过过渡配合相连，支撑轴的一端与摆锤、上夹紧块固定连接，且摆锤与上夹紧块的侧面与支撑轴的轴肩紧靠，支撑轴的另一端伸出摆锤支架及吸盘电磁铁固定盘外，与摆动杆固定连接；磁性颗粒置于T型台上部的V型槽内。

2.如权利要求1所述的一种测试一维磁性颗粒链冲击力学特性的试验装置，其特征在于，所述电磁铁承载台中间及底部设有螺纹孔。

3.如权利要求1所述的一种测试一维磁性颗粒链冲击力学特性的试验装置，其特征在于，所述传感器承载台中间及底部设有螺纹孔且侧面设有方槽，其截面呈T型。

4.如权利要求1所述的一种测试一维磁性颗粒链冲击力学特性的试验装置，其特征在于，所述T型台上端设有V型槽、底部设有螺纹孔，其截面呈T型。

5.如权利要求1所述的一种测试一维磁性颗粒链冲击力学特性的试验装置，其特征在于，所述摆锤是上端设有凹形槽的实心阶梯轴。

6.如权利要求1所述的一种测试一维磁性颗粒链冲击力学特性的试验装置，其特征在于，所述摆锤支架是设有轴承座孔及螺纹孔的板件结构。

7.如权利要求1所述的一种测试一维磁性颗粒链冲击力学特性的试验装置，其特征在于，所述吸盘电磁铁固定盘是设有螺纹孔的圆盘状结构。

8.如权利要求1所述的一种测试一维磁性颗粒链冲击力学特性的试验装置，其特征在于，所述上夹紧块下端设有凹形槽。

9.如权利要求1所述的一种测试一维磁性颗粒链冲击力学特性的试验装置，其特征在于，所述支撑轴是一侧截面为矩形且另一侧截面为圆形的实心轴，所述摆动杆是上端设有圆槽的实心轴，所述肋板是侧面设有定位安装孔的板件结构。