[实用新型]测试设备及其给电治具有效
申请号: | 201720516621.4 | 申请日: | 2017-05-10 |
公开(公告)号: | CN206930747U | 公开(公告)日: | 2018-01-26 |
发明(设计)人: | 胡海;李国泉;王泰山;李成鹏;刘文斌;方继林 | 申请(专利权)人: | 深圳瑞波光电子有限公司;深圳清华大学研究院 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙)44280 | 代理人: | 何青瓦 |
地址: | 518052 广东省深圳市南山区西丽*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 测试 设备 及其 电治具 | ||
1.一种给电治具,用于对半导体激光器未电隔离裸BAR测试时注入大电流,其特征在于,所述给电治具包括探针夹具和多个弹性探针,所述探针夹具包括探针座和探针固定件,所述探针座和所述探针固定件用于配合以夹持固定所述多个弹性探针,所述多个弹性探针的针尖一端处于同一平面。
2.根据权利要求1所述的给电治具,其特征在于,,所述探针座设有容置空间,所述多个弹性探针设于所述容置空间内,所述探针固定件用于固定所述多个弹性探针。
3.根据权利要求2所述的给电治具,其特征在于,所述探针座包括探针座本体和从所述探针座本体一侧延伸的凸耳,所述容置空间形成于所述探针座本体的中部,所述凸耳用于预固定给电电源输出电线。
4.根据权利要求3所述的给电治具,其特征在于,所述探针座本体的中部形成有第一凹槽,所述第一凹槽贯穿所述探针座本体的宽度方向设置,所述第一凹槽内设有容置块,所述容置空间形成于所述容置块,所述容置空间为第二凹槽。
5.根据权利要求4所述的给电治具,其特征在于,所述容置块顶面低于所述探针座本体的顶面,所述容置块的宽度小于所述探针座本体的宽度,所述第一凹槽内临近所述容置块的空间用于放置焊料。
6.根据权利要求5所述的给电治具,其特征在于,所述探针固定件包括固定板和从所述固定板底面延伸的凸台,所述凸台与所述第一凹槽配合连接以固定所述多个弹性探针,所述探针座与所述固定板通过螺钉固定连接。
7.根据权利要求2所述的给电治具,其特征在于,所述多个弹性探针呈多行重叠设置。
8.根据权利要求7所述的给电治具,其特征在于,所述多个弹性探针呈两行设置,每行具有25个弹性探针,每个所述弹性探针的外径为0.35mm,所述探针座和所述探针固定件均采用紫铜加工而成并进行镀镍表面处理。
9.根据权利要求2所述的给电治具,其特征在于,所述多个弹性探针通过平面制作夹具使得所述多个弹性探针的针尖一端处于同一平面,所述平面制作夹具包括夹具主体,所述夹具主体内形成有截面呈w型的第三凹槽,所述第三凹槽包括依次连接的探针座底面放置面、探针座侧面放置面、探针衔接面以及探针抵接面,所述探针座通过所述探针座底面放置面和所述探针座侧面放置面定位,所述多个弹性探针设置于所述探针座上,并且针尖一端延伸至探针衔接面上方,直至抵接于所述探针抵接面。
10.一种测试设备,其特征在于,所述测试设备包括如权利要求1-9任一项所述的给电治具。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳瑞波光电子有限公司;深圳清华大学研究院,未经深圳瑞波光电子有限公司;深圳清华大学研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201720516621.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。