[实用新型]隔断式密封光路分析仪器

说明书

技术领域

本实用新型公开一种光分析仪器，特别是一种隔断式密封光路分析仪器，属于表面分析仪器技术领域。

背景技术

光谱分析是物体表面检测常用的分析手段，即通过特殊光谱照射到待检测样品表面，通过反射光的光谱分析，从而得到待检测样品的表面参数。有些物品表面分析时，对氛围要求较高，通常需要在待检测样品的光路上充入特殊气体（如：氦气等），以完成检测，由于样品仓体积较大，每次更换样品时，当开启密封盖时，样品仓内则会进去空气，再次检测时，则要将样品仓抽成真空，然后再次充入气体，这样就会浪费很多特殊气体，造成材料的浪费。

发明内容

针对上述提到的现有技术中的光谱分析时会造成气体的浪费的缺点，本实用新型提供一种隔断式密封光路分析仪器，其在样品仓内固定设有密封膜将样品仓和光路检测部分隔开，以避免更换样品时对充入的气体造成浪费。

本实用新型解决其技术问题采用的技术方案是：一种隔断式密封光路分析仪器，光路分析仪器包括主体和密封盖，主体内开设有样品仓，样品仓底部固定设置有密封膜，密封膜下方设有光路区域，光路区域内设有进光口和出光口，进光口和出光口的中心线的焦点为样品仓中的样品检测点。

本实用新型解决其技术问题采用的技术方案进一步还包括：

所述的进光口和出光口的中心线垂直设置。

所述的主体顶部设有第一密封圈安装槽，第一密封圈安装槽内固定设置有第一密封圈，第一密封圈设置在主体和密封盖之间。

所述的第一密封圈安装槽横截面呈梯形。

所述的样品仓底部开设有第二密封圈安装槽，第二密封圈安装槽内固定设置有第二密封圈。

所述的第二密封圈安装槽横截面呈梯形。

所述的密封膜采用聚酯薄膜。

本实用新型的有益效果是：本实用新型在样品仓内固定设有密封膜将样品仓和充气区域的光路检测部分隔开，使得充气区域始终充有气体，更换样品时，开启密封盖，由于有密封膜的存在，使得充气区域的气体不会泄露，从而可避免更换样品时对充入的气体造成浪费减少气体的消耗，降低检测成本。

下面将结合附图和具体实施方式对本实用新型做进一步说明。

附图说明

图1为本实用新型剖面结构示意图。

图中，1-主体，2-密封盖，3-样品仓，4-密封膜，5-样品，6-进光口，7-出光口，8-充气区域，9-第一密封圈，10-第二密封圈。

具体实施方式

本实施例为本实用新型优选实施方式，其他凡其原理和基本结构与本实施例相同或近似的，均在本实用新型保护范围之内。

请参看附图1，本实用新型主要包括主体1和密封盖2，主体1内开设有用于容放样品5用的样品仓3，样品仓3底部固定设置有密封膜4，将样品仓3内部分隔开，一部分为用于放置样品5的区域，另一部分为光路区域，光路区域内充有气体，本实施例中，将其定义为充气区域8，本实施例中，光路区域包括有进光口6和出光口7，进光口6和出光口7的中心线垂直设置，进光口6和出光口7的中心线的焦点为样品仓3中的样品检测点。

本实施例中，主体1顶部设有第一密封圈安装槽，第一密封圈安装槽横截面呈梯形，第一密封圈安装槽内固定设置有第一密封圈9，第一密封圈9设置在主体1和密封盖2之间，可增强主体1和密封盖2之间的密封性。

本实施例中，在样品仓3底部开设有第二密封圈安装槽，第二密封圈安装槽横截面呈梯形，第二密封圈安装槽内固定设置有第二密封圈10，由于第二密封圈安装槽呈梯形，所有第二密封圈可在安装时通过自身形变固定安装在第二密封圈安装槽内，通过第二密封圈10压住密封膜4，将密封膜4展开并固定在样品仓3底部。

本实施例中，密封膜4可采用聚酯薄膜等材料制成。

本实用新型在使用时，打开密封盖2，将样品5放置在样品仓3内的检测点位置处，在充气区域8充入气体，对样品5进行检测；检测完成后，打开密封盖2，对样品5进行更换，由于密封膜4的存在，充气区域8内的气体在更换样品时不会造成泄露。

本实用新型在样品仓内固定设有密封膜将样品仓和充气区域的光路检测部分隔开，使得充气区域始终充有气体，更换样品时，开启密封盖，由于有密封膜的存在，使得充气区域的气体不会泄露，从而可避免更换样品时对充入的气体造成浪费减少气体的消耗，降低检测成本。