[实用新型]用于测量非漫射平板材料透射比和反射比的装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及光学检测领域，尤其涉及用于测量非漫射平板材料透射比和反射比的装置。

背景技术

目前通用透射测量光路为空气参比光路，光路在样品两侧，如图1所示，即在被测样品的两侧分别放置发射装置和接收装置来测量被测样品的透射比；通用反射测量光路为V型参比光路，如图2所示，即在被测样品的同侧放置发射装置和接收装置来测量被测样品该侧的反射比，在测量样品另侧的反射比时，需把样品翻面。其中，图1和图2对应的分别为光源1，第一狭缝21，第二狭缝22，透镜3，积分球4，接收装置5，平板材料6。

现有的常用测量仪器有两种结构型式：

1、使用两套接收装置的结构型式：如图3所示，该类测量仪器需要一套发射装置及两套接收装置，光源侧的接收装置用于测量被测样品光源侧的反射比，光源反侧的接收装置用于测量被测样品的透射比。故该类仪器共需要两个探头来测得被测样品的透射比及两侧反射比，且若要测得光源反侧的反射比时，被测样品必须翻面。

2、使用一套接收装置的结构型式：如图4和图5所示，该类测量仪器需要一套发射装置及一套接收装置，被测样品放在位置1时可测得样品的透射比，被测样品放在位置2时，可测得样品光源侧的反射比，若要测得光源反侧的反射比时，被测样品必须翻面。故该类仪器共需要两个探头来测得被测样品的透射比及两侧反射比，且若要测得光源反侧的反射比时，被测样品必须翻面。

如上可知，现有测量平板材料透射比及两侧反射比的操作仪器都需要两个探头并且必须使样品翻面来完成测量。

其中，上述结构具有的缺点是：

1、现有操作仪器在测量平板材料的透射比时，平板材料两侧均需装有探头。

2、在测量平板材料透射比时，对于某些生产线上的平板材料，如真空镀膜生产线上的玻璃，受设备限制，只能单侧装探头，则无法满足测量条件。

3、现有操作仪器在测量平板材料两侧的反射比时，平板材料必须翻面。

4、在测量平板材料两侧反射比时，对于生产线上的平板材料或不易翻面场合，则无法满足测量条件。

5、现有操作仪器需先测得样品的透射比，再测得样品光源侧的反射比，最后把样品翻面测得样品光源反侧的反射比。测量步骤多，操作复杂。

进一步分析引起这些缺点的原因为：

1、通用反射测量光路是通过测量样品反射后接收到的光强度来计算反射比。这样，就必须使反射测量光路位于被测品被测面的一侧，而在测量另一面反射比时，被测样品需翻面。

2、通用透射测量光路是通过测量样品透射后接收到的光强度来计算透射比，故透射测量光路必须位于被测样品两侧。

实用新型内容

为了解决上述技术问题，本实用新型提出了用于测量非漫射平板材料透射比和反射比的装置；

包括发射装置、被测样品、参考样品、接收装置和平移机构，

所述发射装置或者接收装置位于所述平移机构上，且所述发射装置和接收装置位于所述被测样品和/或参考样品的同一侧，所述发射装置和接收装置的位置可互换；所述被测样品与发射装置之间的距离小于所述参考样品与发射装置之间的距离；

所述发射装置包括光源、第一狭缝和透镜，所述光源用于提供光束，所述透镜用于对所述光束进行准直聚焦；

所述接收装置包括积分球、第二狭缝和驱动机构，所述积分球用于收集进入其内部的所有光束；所述第二狭缝位于所述积分球的入口处；所述驱动机构用于驱动接收装置中的积分球移动，或者所述发射装置中的光源移动，调控进入所述积分球的光束量。

进一步地，所述平移机构包括第一平移台，所述驱动机构包括第一驱动器；所述积分球和第二狭缝位于所述第一平移台上；

所述第一驱动器用于驱动所述积分球在所述第一平移台上，向面对所述光源的方向移动或向远离所述光源的方向移动。

进一步地，所述第一驱动器驱动所述积分球在所述第一平移台上移动，使所述积分球位于所述第一平移台的第一位置、第二位置、第三位置；

所述积分球在对应位置处获取到的光束，通过光电转换器分别转换为第一光强度、第二光强度、第三光强度。

进一步地，还包括第三驱动器，所述第三驱动器驱动所述第二狭缝以积分球的球心为轴在积分球的入口处进行摆动，使所述积分球获取到的光束通过光电转换器分别转换为第一光强度、第二光强度、第三光强度。

进一步地，所述平移机构还包括第二平移台，所述驱动机构还包括第二驱动器；