[实用新型]一种半导体制冷晶粒自动分选机

说明书

技术领域

本实用新型涉及晶粒分选技术领域，特别是涉及一种半导体制冷晶粒自动分选机。

背景技术

半导体致冷作为一个较为新兴的制冷方式，它是一种产生负热阻的制冷技术，优点是无活动部件，应用在一些空间受到限制，可靠高，无制冷剂的场合。主要利用半导体材料的Peltier效应，当直流电通过两种不同半导体材料串联成的电偶时，在电偶的两端即可分别吸收热量和放出热量，可以实现致冷的目的。广泛用于医疗、机算机、冷藏箱、饮水机、军工石油仪器和实验科学仪器等方面。按级数分别有TEC1～TEC6级，按尺寸大小分，目前最小可以做到4.2*4.2mm/7 对PN晶堆。而致冷片制作环节中一道重要工序就是P&N型晶粒的分选过程。对晶粒的分选，包括对晶粒的外观和尺寸进行检查，此步骤对晶粒的生产和封装成本方面有重要影响。而传统的筛选过程都是依靠人工用眼睛看，时间久了，眼睛疲劳、花眼，容易造成晶粒筛选不准确，浪费人力、物力，而且人工筛选效率低，准确性低。

实用新型内容

为此，需要提供一种能提高工作效率，自动化程度高，既可以检测晶粒的长、宽、高尺寸，有可以检测晶粒的形状是否规则，并且能够实现分选的装置，来满足行业中对大批量晶粒的分选工作。

为实现上述目的，本实用新型提供了一种半导体制冷晶粒自动分选机，以克服现有技术存在的上述缺陷。

本实用新型采用如下方案：一种半导体制冷晶粒自动分选机，包括：

机架；

设置在机架上的晶粒运送装置，所述晶粒运送装置上设有产品监测装置，用于监测待分选晶粒是否到达指定位置；

设置在晶粒运送装置上方和两侧的晶粒检测装置，所述晶粒检测装置包括分别用于识别晶粒上面、前侧面和后侧面的摄像头；

与所述晶粒检测装置相连接的图像处理单元，所述图像处理单元接收到所述产品监测装置发出的控制信号后，控制上述的摄像头依次拍摄照片，所述摄像头将拍摄的图像信息返回至所述图像处理单元，所述图像处理单元对照被比对象对图像信息依次进行判断，确定图像信息中的产品是否为良品，并根据判断结果决定是否输出晶粒取出信号；

与所述图像处理单元相连接的控制电路，与所述控制电路相连接的晶粒取出装置，所述控制电路接收所述晶粒取出信号并控制所述晶粒取出装置进行晶粒取出操作。

优选的，还包括与晶粒运送装置相衔接的晶粒输入装置，所述晶粒输入装置包括晶粒振动装置和晶粒拾入装置，所述晶粒拾入装置与所述控制电路相连接，所述晶粒振动装置包括依次连接的曲线振动盘和直线振动盘，在曲线振动盘中剔除尺寸偏差大和形状不规则的晶粒，剩余待分选的晶粒在直线振动盘逐颗排列后，由所述控制电路控制所述晶粒拾入装置将晶粒拾入晶粒运送装置。

优选的，所述晶粒运送装置包括设在机架上的运送轨道、在运送轨道上移动的活动治具、固定在运送轨道两端并驱动活动治具沿着运送轨道循环移动的多个气缸，所述活动治具上表面承载晶粒。

进一步的，所述运送轨道至少包括两条平行的条形槽。

进一步的，所述晶粒取出装置包括固定于晶粒运送装置一侧与晶粒检测装置相衔接并与高压气源和控制电路相连接的气缸，还包括设置在运送轨道上并且与所述气缸相连接的气动吸盘。

进一步的，所述晶粒拾入装置包括固定于晶粒输入装置一侧并与高压气源和控制电路相连接的气缸，还包括与所述气缸相连接的气动吸盘。

更进一步的，还包括设置在机架上的运行监测装置，所述运行监测装置与所述控制电路相连接，所述运行监测装置分别监测晶粒运送装置的气缸、晶粒取出装置和直线振动盘是否存在异常。

优选的，所述摄像头为CCD摄像头，所述产品监测装置和所述运行监测装置均为光纤信号放大器。

优选的，还包括与所述图像处理单元相连接的显示器，所述图像处理单元中还包括一用于记录判断为良品或不良品数量的记录部件。

优选的，在所述晶粒取出装置的气动吸盘处设有收集良品容器。

区别于现有技术，本实用新型的半导体致冷片晶粒自动分选机，其中的晶粒输入装置采用曲线振动盘剔除了尺寸偏差较大和形状较不规则的晶粒，实现了晶粒的初步分选，提高了效率；通过采用具有摄像头的晶粒检测装置，通过对晶粒进行三个角度拍照，实现对晶粒的尺寸参数的自动测量并分选，分选结果准确度高。综上，本实用新型减少了人工检查的误差，提高了精准度，同时也节省了人力，提高了检测效率。

附图说明

图1为本实用新型的俯视结构示意图；

图2为本实用新型的正视结构剖视图。