[实用新型]一种用于重型切削刀具破损形貌检测装置有效
申请号: | 201720569333.5 | 申请日: | 2017-05-22 |
公开(公告)号: | CN206974390U | 公开(公告)日: | 2018-02-06 |
发明(设计)人: | 程耀楠;王超;贾炜坤 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨理工大学 |
主分类号: | G01B11/30 | 分类号: | G01B11/30 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 150080 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 重型 切削 刀具 破损 形貌 检测 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种用于重型切削刀具破损形貌检测装置,属于切削加工用刀具损伤检测技术领域。
背景技术
水室封头的材料为高强度低合金508III钢,该材料塑性高、高温力学性能好,其主要加工方式是重型切削,加工中切削速度一般为200~250m/min,背吃刀量可达30~50mm,进给速度为1~1.2m/min以上,切削温度可以达到1000℃以上,切削力可达10KN以上。刀具在切削过程中,由于毛坯件的锻造缺陷(夹砂、表面硬质氧化皮、锻造折断、锻造铲沟等),造成切削的深度随机变化,其切削过程可看为断续切削过程,同时材料去除量大(可达70%以上),制造周期长,刀具长期受到变频率的机械载荷和热冲击,易发生磨损和破损问题。刀具在加工中的破损问题严重影响着切削加工效率、产品质量和成本以及刀具寿命等。因此重型切削水室封头材料刀具的破损检测研究具有重要的意义。
发明内容
本实用新型提供一种用于重型切削刀具破损形貌检测装置,基于激光衍射缝宽原理,并将二维朗奇光栅运用于刀具破损形貌的检测。
为了达到上述目的,本实用新型所采取的技术方案是:
本实用新型为一种用于重型切削刀具破损形貌检测装置,它包含He-Ne激光、二维朗奇光栅、线阵CCD、图像采集卡、数字图像处理系统、VGA串口、显示器。在该装置中,照射光源采用波长为λ的2mH的He-Ne激光,穿过宽为H(L>H>λ)、长为L的单缝(由参考物标准刀具和待测刀具组成)照射到距离狭缝为R的屏幕上,并形成衍射条纹。该衍射条纹穿过二维朗奇光栅照射到线阵CCD上,得到了被调制的光栅图像。在该衍射条纹中,包含了被测表面的信息,利用了二维朗奇光栅同时获取两正交方向上具有的性能参数,因此二维朗奇光栅的栅格单元采用正方形形状,光栅的待定参数是正方形栅格的边长a,该参数的确定取决于被测表面的特点、测量的分辨率等因素。
本实用新型相对于现有技术的有益效果是:
本实用新型的装置采用二维朗奇光栅,能够同时获取两正交方向上的性能参数,并通过栅格单元来确定被测表面的特点,重构表面形貌。
本实用新型的装置设计采用了线阵CCD,其结构简单、成本较低,并且实时传输光电变换信号和自扫描速度快、频率响应高,能够实现动态测量。
本实用新型采用激光衍射测定缝宽原理,分辨率可在亚微米以下,装置精度满足实际要求。
本实用新型在进行设计时避免采用减光装置,消除减光器带来的负面影响,省去多种中间环节,减小误差。
本实用新型相较于显微镜等检测方式,因重型切削刀具参数及尺寸较大,破损形貌较明显,该检测方式能更加方便、直观。
综上,为了检测在重型切削加工中,刀具因受到变频率的机械载荷和热载荷造成的磨损和破损问题,设计了用于重型切削刀具破损形貌检测装置。该装置采用激光衍射缝宽原理,并采用二维朗奇光栅、线阵CCD、数字图像处理系统等,能快速的测定刀具在切削加工中的破损问题,做到及时换刀,提高刀具的生产效率。
附图说明
为了易于说明,本实用新型由下述的具体实施及附图作以详细描述。
图1是本实用新型的系统组成框图;
图2是本实用新型的激光衍射缝宽测定原理图;
图3是本实用新型的二维朗奇光栅栅格结构;
图1中主要包括:He-Ne激光、二维朗奇光栅、线阵CCD、图像采集卡、数字图像处理系统、VGA串口、显示器。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型的技术方案进一步的说明,但并不局限于此,凡是对本实用新型技术方案进行修改或者等同替换,而不脱离本实用新型技术方案的精神和范围,均应涵盖在本实用新型的保护范围中。
具体实施方式一:本实用新型为一种用于重型切削刀具破损形貌检测装置,它包含He-Ne激光、二维朗奇光栅、线阵CCD、图像采集卡、数字图像处理系统、VGA串口、显示器。在该装置中,照射光源采用波长为λ的2mH的He-Ne激光,穿过宽为H(L>H>λ)、长为L的单缝(由参考物标准刀具和待测刀具组成)照射到距离狭缝为R的屏幕上,并形成衍射条纹。该衍射条纹穿过二维朗奇光栅照射到线阵CCD上,得到了被调制的光栅图像。在该衍射条纹中,包含了被测表面的信息,利用了二维朗奇光栅同时获取两正交方向上具有的性能参数,因此二维朗奇光栅的栅格单元采用正方形形状,光栅的待定参数是正方形栅格的边长a,该参数的确定取决于被测表面的特点、测量的分辨率等因素。
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