[实用新型]一种用于重型切削刀具破损形貌检测装置有效

专利信息
申请号: 201720569333.5 申请日: 2017-05-22
公开(公告)号: CN206974390U 公开(公告)日: 2018-02-06
发明(设计)人: 程耀楠;王超;贾炜坤 申请(专利权)人: 哈尔滨理工大学
主分类号: G01B11/30 分类号: G01B11/30
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 150080 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 用于 重型 切削 刀具 破损 形貌 检测 装置
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及一种用于重型切削刀具破损形貌检测装置,属于切削加工用刀具损伤检测技术领域。

背景技术

水室封头的材料为高强度低合金508III钢,该材料塑性高、高温力学性能好,其主要加工方式是重型切削,加工中切削速度一般为200~250m/min,背吃刀量可达30~50mm,进给速度为1~1.2m/min以上,切削温度可以达到1000℃以上,切削力可达10KN以上。刀具在切削过程中,由于毛坯件的锻造缺陷(夹砂、表面硬质氧化皮、锻造折断、锻造铲沟等),造成切削的深度随机变化,其切削过程可看为断续切削过程,同时材料去除量大(可达70%以上),制造周期长,刀具长期受到变频率的机械载荷和热冲击,易发生磨损和破损问题。刀具在加工中的破损问题严重影响着切削加工效率、产品质量和成本以及刀具寿命等。因此重型切削水室封头材料刀具的破损检测研究具有重要的意义。

发明内容

本实用新型提供一种用于重型切削刀具破损形貌检测装置,基于激光衍射缝宽原理,并将二维朗奇光栅运用于刀具破损形貌的检测。

为了达到上述目的,本实用新型所采取的技术方案是:

本实用新型为一种用于重型切削刀具破损形貌检测装置,它包含He-Ne激光、二维朗奇光栅、线阵CCD、图像采集卡、数字图像处理系统、VGA串口、显示器。在该装置中,照射光源采用波长为λ的2mH的He-Ne激光,穿过宽为H(L>H>λ)、长为L的单缝(由参考物标准刀具和待测刀具组成)照射到距离狭缝为R的屏幕上,并形成衍射条纹。该衍射条纹穿过二维朗奇光栅照射到线阵CCD上,得到了被调制的光栅图像。在该衍射条纹中,包含了被测表面的信息,利用了二维朗奇光栅同时获取两正交方向上具有的性能参数,因此二维朗奇光栅的栅格单元采用正方形形状,光栅的待定参数是正方形栅格的边长a,该参数的确定取决于被测表面的特点、测量的分辨率等因素。

本实用新型相对于现有技术的有益效果是:

本实用新型的装置采用二维朗奇光栅,能够同时获取两正交方向上的性能参数,并通过栅格单元来确定被测表面的特点,重构表面形貌。

本实用新型的装置设计采用了线阵CCD,其结构简单、成本较低,并且实时传输光电变换信号和自扫描速度快、频率响应高,能够实现动态测量。

本实用新型采用激光衍射测定缝宽原理,分辨率可在亚微米以下,装置精度满足实际要求。

本实用新型在进行设计时避免采用减光装置,消除减光器带来的负面影响,省去多种中间环节,减小误差。

本实用新型相较于显微镜等检测方式,因重型切削刀具参数及尺寸较大,破损形貌较明显,该检测方式能更加方便、直观。

综上,为了检测在重型切削加工中,刀具因受到变频率的机械载荷和热载荷造成的磨损和破损问题,设计了用于重型切削刀具破损形貌检测装置。该装置采用激光衍射缝宽原理,并采用二维朗奇光栅、线阵CCD、数字图像处理系统等,能快速的测定刀具在切削加工中的破损问题,做到及时换刀,提高刀具的生产效率。

附图说明

为了易于说明,本实用新型由下述的具体实施及附图作以详细描述。

图1是本实用新型的系统组成框图;

图2是本实用新型的激光衍射缝宽测定原理图;

图3是本实用新型的二维朗奇光栅栅格结构;

图1中主要包括:He-Ne激光、二维朗奇光栅、线阵CCD、图像采集卡、数字图像处理系统、VGA串口、显示器。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型的技术方案进一步的说明,但并不局限于此,凡是对本实用新型技术方案进行修改或者等同替换,而不脱离本实用新型技术方案的精神和范围,均应涵盖在本实用新型的保护范围中。

具体实施方式一:本实用新型为一种用于重型切削刀具破损形貌检测装置,它包含He-Ne激光、二维朗奇光栅、线阵CCD、图像采集卡、数字图像处理系统、VGA串口、显示器。在该装置中,照射光源采用波长为λ的2mH的He-Ne激光,穿过宽为H(L>H>λ)、长为L的单缝(由参考物标准刀具和待测刀具组成)照射到距离狭缝为R的屏幕上,并形成衍射条纹。该衍射条纹穿过二维朗奇光栅照射到线阵CCD上,得到了被调制的光栅图像。在该衍射条纹中,包含了被测表面的信息,利用了二维朗奇光栅同时获取两正交方向上具有的性能参数,因此二维朗奇光栅的栅格单元采用正方形形状,光栅的待定参数是正方形栅格的边长a,该参数的确定取决于被测表面的特点、测量的分辨率等因素。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于哈尔滨理工大学,未经哈尔滨理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201720569333.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top