[实用新型]一种聚合物改性沥青可测膜厚均匀控温制片装置有效
申请号: | 201720608369.X | 申请日: | 2017-05-27 |
公开(公告)号: | CN206862724U | 公开(公告)日: | 2018-01-09 |
发明(设计)人: | 胡昌斌;方月;蒋振梁;殷杰;林建建;叶晨;钟义晖 | 申请(专利权)人: | 福州大学 |
主分类号: | G01N1/28 | 分类号: | G01N1/28;G01N1/44;G05D27/02 |
代理公司: | 福州元创专利商标代理有限公司35100 | 代理人: | 蔡学俊,林捷 |
地址: | 350108 福建省福州市*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 聚合物 改性沥青 可测膜厚 均匀 制片 装置 | ||
技术领域:
本实用新型涉及聚合物改性沥青加工工艺领域,特别是一种可均匀加热、可测薄膜厚度的聚合物改性沥青制片获取装置。
背景技术:
目前聚合物改性沥青在道路工程中以得到广泛的应用,实验研究发现通过荧光显微镜技术可以便捷、高效地判别聚合物在沥青中的分散状态,进而判断聚合物改性沥青的效果,而制片温度和制片膜厚是影响聚合物的分散状态主要因素,但目前仍未发现相关的仪器设备能够同时实现聚合物改性沥青制片时的均匀控温和膜厚控制的装置。
发明内容
有鉴于此,本实用新型目的是通过一种聚合物改性沥青可测膜厚均匀控温制片装置,能够对聚合物改性沥青制片同时实现均匀控温和膜厚可测。
本实用新型的装置采用以下方案实现:
本实用新型聚合物改性沥青可测膜厚均匀控温制片装置,其特征在于:包括箱体和设在箱体内的超声波测量组件、控温均匀加热组件、显示组件及调节控制组件;
所述超声波测量组件包括探测笔和超声波测量仪;所述探测笔用以在高频电脉冲触发下产生并接收超声波,所述超声波测量仪用以测量聚合物改性沥青制片膜厚,超声波测量仪分别与探测笔和显示屏相连;
所述控温均匀加热组件包括电磁炉、设在电磁炉上的金属板、设在金属板上方腔室内的导热油和位于导热油上部的铁铝合金平台板,以及控温仪;所述电磁炉用于使金属板产生热量;所述金属板用于给导热油传递热量,所述导热油用于传递热量给铁铝合金平台板;所述铁铝合金平台板用于承载载玻片并均匀加热载玻片,所述控温仪由温度计测量导热油中的温度,所述控温仪与电磁炉电连接以控制其工作温度;
所述显示组件包括指示灯和显示屏;所述指示灯、显示屏与开机按钮电连接;
所述调节控制组件包括开机按钮和温度设定按钮;所述开机按钮与所述控温仪、所述电磁炉、所述超声波测量组件相连;所述温度设定按钮用以控制所述导热油的温度,其与控温仪相连。
进一步的,上述探测笔尺寸:直径5mm,长150mm,笔头为高5mm的圆台,圆台直径为1mm。
进一步的,上述箱体底部设有多个高度可调的脚螺旋,所述箱体表面设有圆水准器。
进一步的,上述金属板为铁板;导热油为甲基硅油;所述控温仪为电接点式温度计。
进一步的,上述超声波测量仪测量薄膜厚度可控精度为:0.01mm。
进一步的,上述控温仪用以控制电磁炉工作状态进而控制平台板温度,温度控制范围为:20℃-200℃。
本实用新型聚合物改性沥青可测膜厚均匀控温制片方法,所述聚合物改性沥青可测膜厚均匀控温制片装置包括箱体和设在箱体内的超声波测量组件、控温均匀加热组件、显示组件及调节控制组件;
所述超声波测量组件包括探测笔和超声波测量仪;所述探测笔用以在高频电脉冲触发下产生并接收超声波,所述超声波测量仪用以测量聚合物改性沥青制片膜厚,超声波测量仪分别与探测笔和显示屏相连;
所述控温均匀加热组件包括电磁炉、设在电磁炉上的金属板、设在金属板上方腔室内的导热油和位于导热油上部的铁铝合金平台板,以及控温仪;所述电磁炉用于使金属板产生热量;所述金属板用于给导热油传递热量,所述导热油用于传递热量给铁铝合金平台板;所述铁铝合金平台板用于承载载玻片并均匀加热载玻片,所述控温仪由温度计测量导热油中的温度,所述控温仪与电磁炉电连接以控制其工作温度;
所述显示组件包括指示灯和显示屏;所述指示灯、显示屏与开机按钮电连接;
所述调节控制组件包括开机按钮和温度设定按钮;所述开机按钮与所述控温仪、所述电磁炉、所述超声波测量组件相连;所述温度设定按钮用以控制所述导热油的温度,其与控温仪相连;
其工作步骤如下:
步骤S1:将装置放置在实验台上,调节所述脚螺旋,观察所述圆水准器中的气泡,使其居中;
步骤S2:将载玻片放置于平台板上,根据需要的制片个数进行放置,并挖取约为0.5g质量的沥青放于载玻片上;
步骤S3:通过开机按钮开启装置,所述指示灯显示为绿灯;利用温度设定按钮设定加热温度T2并通过所述显示屏显示温度,所述平台板和导热油的温度通过所述显示屏实时显示当前制片温度T1;
步骤S4:当所述平台板温度即显示屏T1所示达到所述设定温度,即所述显示屏T2所示时,放上盖玻片,开启超声波测量仪,通过所述探测笔按压盖玻片进行制膜并实时测出膜厚,并通过显示屏D所示;
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