[实用新型]一种开尔文连接故障检测电路

说明书

技术领域

本实用新型涉及基本电子电路领域，具体为一种开尔文连接故障检测电路。

背景技术

开尔文四线检测（Kelvin Four-terminal sensing），也被称之为四端子检测（4T检测， 4T sensing）、四线检测或4点探针法，它是一种电阻抗测量技术，使用单独的对载电流和电压检测电极，相比传统的两个终端（2T）传感能够进行更精确的测量。四线开尔文测试的目的是扣除导线电阻带来的压降。一段30cm长导线的等效电阻大概是十毫欧姆到百毫欧姆，如果通过导线的电流足够大（比如是安培级的话），那么导线两端的压降就达到几十到上百mV。如想准确测量负载两端的电压就必须扣除导线电阻带来的压降。但开尔文四线检测必须保证高端和低端的端子在器件端短路，确保四线连接正常，故在进行开尔文检测时，需要进行开尔文故障检测，确保接触的可靠性。现有的开尔文故障检测方式，采用搭接内部环路，检测环路通断是否异常。但开尔文故障检测时通常会连接外接测试器件，现有方法会对器件端造成影响，严重情况下甚至打坏器件。

发明内容

本实用新型的目的在于提供一种开尔文连接故障检测电路，在进行开尔文故障检测时，通过浮动方法实现接触故障检测，同时保证器件端不会受到影响，确保安全性。

为了实现上述目的，本实用新型的技术方案是：

一种开尔文连接故障检测电路，包括用于开尔文检测电路的被测组件和测试针床，测试针床的四个探针分为两组探触被测组件，开尔文检测电路的两组测试线路分别连接测试针床的两组探针，其中，针床的每一组探针分别连接有一个针床触点连接检测电路，所述针床触点连接检测电路包括一个限制容量的电容，电容通过连接在电容两端的两个换向开关的导向分别形成直流充电回路和放电回路，所述放电回路包括所述电容，电容串接放电电阻、光电耦合器输入端和所述一组探针，光电耦合器输出端连接信号输出电路，信号输出电路连接一个信号检测仪，通过信号检测仪判断针床触点的连接故障。

方案进一步是：所述电容的容量在30至50微法拉，电容充电后的电容两侧电压是3.5至5伏，所述放电电阻是150至200欧姆。

方案进一步是：所述开尔文检测电路的两组测试线路分别通过选择开关连接测试针床的两组探针，所述针床触点连接检测电路连接在选择开关的开尔文检测电路的两组测试线路端。

方案进一步是：在开尔文检测电路的两组测试线路与所述针床触点连接检测电路之间设置有通断关开关。

本实用新型与现有技术相比的优点在于：本实用新型采用浮动电容放电进行开尔文故障功能检测，且放电检测过程较短，可以有效的保护被测器件，防止被测器件被打坏，有效的提高了测试安全性和效率。

下面结合附图和实施例对本实用新型作一详细描述。

附图说明

图1 为本实用新型连接故障检测逻辑电路基本示意图；

图2为本实用新型连接故障检测逻辑电路附加开关后的示意图。

具体实施方式

一种开尔文连接故障检测电路，参见附图1，所述电路包括用于开尔文检测电路的被测阻件和测试针床（图中未示出），测试针床有多个探针，作为开尔文检测，测试针床将四个探针用于一次开尔文检测，测试中将测试针床测试测探针组的四个探针分为两组1和2探触被测组件3（四个探针也可以相当于两组开关），开尔文检测电路4的两组测试线路分别连接测试针床的两组探针，其中，针床的每一组探针分别连接有一个针床触点连接检测电路，所述针床触点连接检测电路包括一个限制容量的电容C，电容通过连接在电容两端的两个换向开关5和6的导向分别形成直流充电回路和直流放电回路，此时的电容为了一种浮动电容，所述放电回路包括所述电容，电容串接放电电阻R1、光电耦合器Q输入端和所述一组探针1或2，光电耦合器输出端连接由R2和直流电源E1组成的信号输出电路，信号输出电路连接一个信号检测仪7，通过信号检测仪判断针床触点的连接故障；其中：放电回路包括与电容两端连接的稳压管DW、限流电阻R3和直流电源E2，E1和E2可以是同一电源，也可以是两个分别设置的电源，如果是两个电源则光电耦合器Q形成了一种信号隔离电路，可以减少干扰；信号检测仪7可以是示波器或者是由微处理器组成的信号识别电路，通过微处理器组成的信号识别电路显示有无信号输出。