[实用新型]不共轴光学系统焦距、后截距和鉴别率测量装置有效
申请号: | 201720629924.7 | 申请日: | 2017-06-02 |
公开(公告)号: | CN207050955U | 公开(公告)日: | 2018-02-27 |
发明(设计)人: | 闫博;梁小伟;纪茹;张小玲;王剑 | 申请(专利权)人: | 西安北方光电科技防务有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 西安吉盛专利代理有限责任公司61108 | 代理人: | 张恒阳 |
地址: | 710043 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 不共轴 光学系统 焦距 后截距 鉴别 测量 装置 | ||
1.一种不共轴光学系统焦距、后截距和鉴别率测量装置,其特征是:至少包括光源、平行光管、曲面镜、偏轴镜片组件、测量显微镜,光源在平行光管的前端,在光源和平行光管之间的物镜焦平面处有玻罗板或鉴别率板提供物方像面,曲面镜在平行光管的出口侧,光源照射的物方像面通过平行光管出射平行光束,由曲面镜接收,经过偏轴镜片组件进入像方成像面的测量显微镜。
2.根据权利要求1所述的一种不共轴光学系统焦距、后截距和鉴别率测量装置,其特征是:所述的曲面镜和偏轴镜片组件组成了不共轴光学系统,并通过夹持工装固定在光具座平台上。
3.根据权利要求1所述的一种不共轴光学系统焦距、后截距和鉴别率测量装置,其特征是:所述的测量显微镜固定在调节升降台上。
4.根据权利要求3所述的一种不共轴光学系统焦距、后截距和鉴别率测量装置,其特征是:所述的调节升降台包括升降调整机构、二维直线微动调整台和二维角度微动测量台,升降调整机构、二维角度微动测量台和二维直线微动调整台构依次顺序从下至上在高度上进行叠加固定连接,叠加高度低于平行光管的输出像面轴线高度。
5.根据权利要求4所述的一种不共轴光学系统焦距、后截距和鉴别率测量装置,其特征是:所述的测量显微镜通过固定座固定在调节升降台的二维直线微动调整台上。
6.根据权利要求2所述的一种不共轴光学系统焦距、后截距和鉴别率测量装置,其特征是:所述夹持工装有两个面和一个底座,两个面中一个为斜面,一个为垂直面,斜面位于垂直面上方向内倾斜,垂直面固定在底座上,斜面用于固定不共轴光学系统,垂直面起高度的支承。
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