[实用新型]元器件测试玻璃房

说明书

技术领域

本实用新型涉及电子元器件测试容器技术领域，是一种元器件测试玻璃房。

背景技术

计量设备的关键元器件性能及可靠性直接决定了整个计量设备的质量。长期在光照等典型环境条件下运行，关键元器件的主要性能参数会发生一定的变化。

为测试元器件在光照条件下运行时性能参数的变化，需要将元器件放在光照条件下测试。然而现有技术中没有提供一种用于在光照条件下测试元器件性能的容器装置。

发明内容

本实用新型提供了一种元器件测试玻璃房，克服了上述现有技术之不足，其能有效解决现有电子元器件没有专用的光照测试容器、无法在光照条件下测试其性能的问题。

本实用新型的技术方案是通过以下措施来实现的：一种元器件测试玻璃房，包括架体和不少于两个的长方体架框，长方体架框的顶端固定有透明顶板，长方体架框的前端固定有透明前板，长方体架框的下端安装有能够放置待测元器件的底板，各长方体架框由下至上呈阶梯状安装在架体上，各长方体架框位于其上方相邻的长方体架框的前方，并且该长方体架框的透明顶板后端与位于其上方相邻长方体架框的透明前板的下端相邻接。

下面是对上述实用新型技术方案的进一步优化或/和改进：

上述底板的前边缘处可固定有转轴，底板通过转轴铰接安装在长方体架框下端。

上述转轴可凸出固定于所在底板的前边缘上端面。

上述转轴端部可固定连接有方柄。

上述长方体架框内可安装有测温度传感器和光强度传感器，温度传感器、光强度传感器通过线缆连接有控制柜，底板上放置有待测元器件，待测元器件通过线缆与控制柜相连接。

本实用新型结构合理而紧凑，使用方便，其通过长方体架框的底板承载待测元器件，使阳光透过透明顶板、透明前板照射在待测元器件上，不仅能够辅助实现在光照条件下待测元器件性能的测试，各长方体架框的阶梯状排布能够有效避免阳光斜射时前排待测元器件的遮挡影响，具有空间利用率高、测试效果好的优点。

附图说明

附图1为本实用新型最佳实施例的立体结构示意图。

附图2为附图1中的长方体架框的立体结构示意图。

附图3为附图1中的底板的立体结构示意图。

附图中的编码分别为：1为架体，2为长方体架框，2-1为透明顶板，2-2为透明前板，2-3为底板，2-4为转轴，2-5为方柄。

具体实施方式

本实用新型不受下述实施例的限制，可根据本实用新型的技术方案与实际情况来确定具体的实施方式。

下面结合实施例及附图对本实用新型作进一步描述：

如附图1、2、3所示，该元器件测试玻璃房包括架体1和不少于两个的长方体架框2，长方体架框2的顶端固定有透明顶板2-1，长方体架框2的前端固定有透明前板2-2，长方体架框2的下端安装有能够放置待测元器件的底板2-3，各长方体架框2由下至上呈阶梯状安装在架体1上，各长方体架框2位于其上方相邻的长方体架框2的前方，并且该长方体架框2的透明顶板2-1后端与位于其上方相邻长方体架框2的透明前板2-2的下端相邻接。长方体架框2的竖直截面最好呈正方形，使用时，将本实用新型的前侧朝向阳光，通过长方体架框2的底板2-3承载待测元器件，阳光透过透明顶板2-1、透明前板2-2照射在待测元器件上，不仅能够辅助实现在光照条件下待测元器件性能的测试，通过各长方体架框2的阶梯状排布能够有效避免阳光斜射时前排待测元器件对后排待测元器件的遮挡影响，具有空间利用率高、测试效果好的优点，同时，透明顶板2-1、透明前板2-2还可以避免待测元器件受风雨的影响，可靠地实现了光照条件下待测元器件性能的测试。

可根据实际需要，对上述元器件测试玻璃房作进一步优化或/和改进：

如附图1、2、3所示，底板2-3的前边缘处固定有转轴2-4，底板2-3通过转轴2-4铰接安装在长方体架框2下端。通过的转轴2-4能够使底板2-3相对长方体架框2实现俯仰翻转，从而使底板2-3能够根据光照角度调整待测元器件的角度，使待测元器件尽可能地接收直射阳光，提高测试效果和测试效率。考虑到待测元器件通常自身重量较轻，底板2-3相对于长方体架框2角度的固定可直接利用转轴2-4与长方体架框2之间的阻尼实现，还可以在长方体架框2上安装顶丝，顶丝的端面与转轴2-4相接触以固定底板2-3的倾斜角度。

如附图1、2、3所示，转轴2-4凸出固定于所在底板2-3的前边缘上端面。转轴2-4凸出固定于底板2-3，使得转轴2-4还具有限位功能，在底板2-3倾斜时能够防止待测元器件下滑，提高了安全性，降低了制造加工成本。