[实用新型]天线测量系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及天线测量技术，它涉及一种天线测量系统。

背景技术

天线及相关技术的快速发展对天线测量技术在精度、效率、测试功能等方面提出了更高要求。天线特性参数的测量有多种方法，目前，主要的方法包括三大类：天线的远场测量、天线的紧缩场测量、天线的近场测量。天线近场测量主要分为三个大类，平面近场、柱面近场和球面近场。其中，球面近场是目前唯一可行的全尺寸天线三维立体辐射性能测试方法，技术难度也最高。

现有多探头天线测量系统采用探头均匀分布的设计，探头与支撑部相对选择180°即可得出一个球面上的数据。然而，采用这种检测方式，需要的探头数量相对较多，不利于企业对产品的成本控制。

实用新型内容

针对现有技术存在的不足，本实用新型的目的在于提供一种天线测量系统，具有成本低、空间小的特点。

为实现上述目的，本实用新型提供了如下技术方案：

一种天线测量系统，包括：

用于放置被测物的承载台；

布设有探头网络的环形部件，所述被测物被置于所述探头网络的几何中心处；以及，

驱动所述承载台或所述环形部件绕一转轴旋转至少一周的驱动装置，所述几何中心在所述转轴上，

所述探头网络包括：设置于所述环形部件上的若干探头，各所述探头与所述转轴之间相对所述几何中心的偏转角度是一基准角度的整数倍，所述基准角度是：与所述转轴相邻的一所述探头与所述转轴之间相对所述几何中心的偏转角度。

通过以上技术方案：只需要控制驱动装置以驱动承载台或环形部件转动360度，即可完成一个完整的球面近场测量。

优选地，所述基准角度与探头的数量相乘后等于180°。

优选地，所述探头的数量为12、24、36、48或60。

优选地，所述驱动装置为以下几种转台中的其中一个：一自由度转台、二自由度转台、三自由度转台、四自由度转台、五自由度转台、六自由度转台。

优选地，所述承载台位于或接近所述几何中心。

通过以上技术方案：能够使得使得测量效果更加准确。

优选地，所述环形部件内侧设有吸波棉，若干块所述吸波棉将所述环形部件整体包裹；所述吸波棉设置有供探头伸出的开孔。

通过以上技术方案：在设置了吸波棉之后，能够减小干扰信号对探头的影响。

与现有技术相比，本实用新型的优点是：

1、采用非对称探头设计，相对传统对称探头设计在相同尺寸下可减少一半探头的使用，大大降低了系统成本。

2、可降低探头分布密度，可在相同采样密度的情况下进一步缩小天线测量系统的直径，大大节约了场地范围。

附图说明

图1为实施例1中天线测量系统的正视图；

图2为实施例1中天线测量系统的测量原理图；

图3为实施例2中天线测量系统的正视图；

图4为实施例3中天线测量系统的侧视图。

附图标记：1、支架；2、环形部件；3、探头；4、承载台；5、驱动装置；6、立柱；7、支撑架；8、几何中心；9、转轴；10、球面采样轮廓。

具体实施方式

下面结合实施例及附图，对本实用新型作进一步的详细说明，但本实用新型的实施方式不仅限于此。

实施例1：

参照图1，一种天线测量系统，包括支架1、竖直安装于支架1上的环形部件2、位于环形部件2的内侧的承载台4、及驱动装置5；本实施例中，该驱动装置5用于驱动该承载台4转动。

该环形部件2的内侧壁上布设有由若干探头3构成的探头3网络。每一探头3均指向环形部件2的中心位置，该中心位置即为探头3网络的几何中心8。

另外，在环形部件2的内侧包裹有吸波棉（附图中未表示），吸波棉将环形部件2整体包裹，该吸波棉可以是U形、锥形或其它形状，本实施例不作限定。吸波棉具有供探头3伸出的开孔，进而探头3可从对应的开孔伸出。

本实施例中，该承载台4采用立柱6式结构，其底部穿过环形部件2的底部后，安装于驱动装置5上，承载台4的顶部位于或接近上述的几何中心8，使得被测物放在承载台4上时，也能够位于或接近上述的几何中心8。

另外，该驱动装置5采用转台，并且可以是以下几种转台中的其中一个：一自由度转台、二自由度转台、三自由度转台、四自由度转台、五自由度转台、六自由度转台。进而，通过控制驱动装置5，可驱动承载台4沿一转轴9（虚拟）旋转，并且上述的几何中心8位于该转轴9上。