[实用新型]一种自动测试装置有效
申请号: | 201720647976.7 | 申请日: | 2017-06-06 |
公开(公告)号: | CN206757004U | 公开(公告)日: | 2017-12-15 |
发明(设计)人: | 吴建生 | 申请(专利权)人: | 厦门天能电子有限公司 |
主分类号: | G01R31/327 | 分类号: | G01R31/327 |
代理公司: | 厦门市精诚新创知识产权代理有限公司35218 | 代理人: | 方惠春 |
地址: | 361000 福建省厦门*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 自动 测试 装置 | ||
技术领域
本实用新型属于测试治具领域,具体地涉及一种用于测试具有多个按键开关且每个按键开关具有相应指示灯的样品的自动测试装置。
背景技术
有些设备的面板,如一些打印机的面板,其具有多个按键开关,且每个按键开关都会设有一个对应的指示灯,一般为LED灯,当对按键开关进行按压操作时,对应的指示灯会亮,以进行提示。因此,在面板的生产过程中,需要对这些按键开关和灯进行测试,即对每个按键开关进行按压,看其对应的灯是否会亮。
现有的对这些按键开关的测试都是每测试一个按键开关,都要测试者单独手工操作一次按压操作,每个按键开关的测试是独立分开的,这样不仅操作麻烦,测试效率慢,而且如果测试者不认真,容易出现有些按键开关漏测,降低产品的良品率,导致客户投诉多。
发明内容
本实用新型目的在于提供一种自动测试装置用以解决上述的问题。
为实现上述目的,本实用新型采用的技术方案为:一种自动测试装置,用于测试具有多个按键开关的样品,包括底座,所述底座内设有主控板,所述底座上设有测试工位,用于放置待测样品,所述测试工位上设有电连接装置,所述待测样品通过电连接装置进行通电,所述底座上还设有按压装置,所述按压装置的控制端与主控板连接,由主控板控制按压装置依次对待测样品的按键开关进行按压而实现对待测样品的所有按键开关性能的测试。
进一步的,所述按压装置包括与待测样品的按键开关数量相同的电磁推杆,所述电磁推杆的控制端与主控板连接,由主控板控制电磁推杆依次动作而对待测样品的按键开关进行依次按压。
更进一步的,所述电磁推杆的数量为3个,3个电磁推杆并排设置。
进一步的,所述电连接装置为顶针,所述待测样品通过顶针与主控板的电源输出端连接。
进一步的,还包括支架和下压装置,所述支架固定在底座上,所述下压装置可上下移动地设置在支架上,通过下压装置下压而将待测样品压紧在测试工位上。
更进一步的,所述下压装置包括连接板、连接杆、把手和多个压杆,所述多个压杆固定在连接板的下表面并对应于待测样品,所述连接杆固定在连接板的上表面,所述把手分别与支架和连接杆铰接,通过转动把手带动连接杆上下移动,从而通过连接板带动压杆上下移动。
更进一步的,所述支架上还设有两个导向杆,所述连接板相应设有两个导向孔,所述导向孔活动套设在导向杆上。
进一步的,所述底座上还设有电源开关,外界电源通过电源开关为主控板供电。
进一步的,所述底座上还设有启动开关和停止开关,所述启动开关和停止开关分别与主控板连接,用于控制按压装置工作或停止。
进一步的,所述主控板包括单片机、MCU微处理器或PLC控制器。
本实用新型的有益技术效果:
本实用新型可以实现对多个按键开关依次进行自动测试,防止漏测,提高测试准确率,从而提高产品的良品率,降低客户投诉,且测试过程操作简单,测试效率高。此外,本实用新型结构简单,易于实现,成本低。
附图说明
图1为本实用新型具体实施例的结构示意图;
图2为本实用新型具体实施例的另一视角的结构示意图。
具体实施方式
现结合附图和具体实施方式对本实用新型进一步说明。
如图1和2所示,一种自动测试装置,用于测试具有多个按键开关且每个按键开关都具有相应指示灯的样品,包括底座1,本具体实施例中,底座1有电木材料制成,当然,在其它实施例中,也可以采用其它绝缘材料制成。
所述底座1内设有主控板(图中未示出),主控板包括单片机和电源转换电路,电源转换电路将外界交流电源转换成直流电源并进行降压后为单片机供电,在其它实施例中,单片机也可以由MCU微处理器或PLC控制器来代替。
本具体实施例中,底座1上还设有电源开关6,外界交流电源通过电源开关6接电源转换电路的输入端,当测试装置使用结束后,关掉电源开关6,从而断掉这个测试装置的电源,提高安全性。
所述底座1上设有测试工位11,用于放置待测样品3,所述测试工位11上设有电连接装置(图中未示出),所述待测样品3通过电连接装置进行通电,本具体实施例中,电连接装置为顶针,待测样品3的电源输入端与顶针接触,顶针与主控板的电源输出端连接。
所述底座1上还设有按压装置,所述按压装置的的控制端与主控板连接,由主控板控制按压装置依次对待测样品3的按键开关31进行按压而实现对待测样品3的所有按键31开关性能的测试。
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