[实用新型]一种基于时间分辨的点源透过率杂散光测试系统有效

专利信息
申请号: 201720676422.X 申请日: 2017-06-12
公开(公告)号: CN206906000U 公开(公告)日: 2018-01-19
发明(设计)人: 陈钦芳;许亮;丁蛟腾;马臻;温文龙 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司61211 代理人: 汪海艳
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 基于 时间 分辨 透过 散光 测试 系统
【权利要求书】:

1.一种基于时间分辨的点源透过率杂散光测试系统,其特征在于:包括沿光路依次设置的脉冲激光光源系统(1)、光源整形系统(2)、平行光管(3)、待测光机系统(4)、探测系统(5),还包括转台(6)和信号采集和处理系统(7),所述待测光机系统(4)或平行光管(3)位于转台(6)上;所述探测系统(5)位于待测光机系统(4)的焦面上,所述信号采集和处理系统(7)采集探测系统(5)的信号,所述探测系统(5)为具有时间分辨率的探测系统。

2.根据权利要求1所述的基于时间分辨的点源透过率杂散光测试系统,其特征在于:还包括光衰减装置,所述光衰减装置位于平行光管焦点处。

3.根据权利要求1或2所述的基于时间分辨的点源透过率杂散光测试系统,其特征在于:所述光源整形系统(2)包括扩束镜头、整形器和汇聚透镜。

4.根据权利要求3所述的基于时间分辨的点源透过率杂散光测试系统,其特征在于:探测系统(5)的时间分辨率大于0.1ns。

5.根据权利要求4所述的基于时间分辨的点源透过率杂散光测试系统,其特征在于:具有时间分辨率的探测系统为条纹相机。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院西安光学精密机械研究所,未经中国科学院西安光学精密机械研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201720676422.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top